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高电压技术实验教学 高压教研室 实验一 绝缘电阻和泄漏电流的测量 测量绝缘电阻与吸收比的工作原理 测量绝缘电阻与吸收比的方法 泄漏电流的测量 1.测量绝缘电阻与吸收比的工作原理 双层介质模型的电流－时间特性 在工程应用上，把介质处在吸收过程时的U/i也称为绝缘电阻R 定义吸收比K： 加压60秒时的绝缘电阻与15秒时绝缘绝缘电阻之比值 定义极化指数P： 为加压10分钟时的绝缘电阻与1分钟时电阻之比值 绝缘状态的判定： 若绝缘内部有集中性导电通道，或绝缘严重受潮，则电阻R1 、R2会显著降低，泄漏电流大大增加，时间常数τ大为减小，吸收电流迅速衰减。即使绝缘部分受潮，只要R1与R2中的一个数值降低，τ值也会大为减小，吸收电流仍会迅速衰减，仍可造成吸收比K（及极化指数P，下同）的下降。当K＝1或接近于1，则设备基本丧失绝缘能力。 2.测量绝缘电阻与吸收比的方法 测量仪表：兆欧表 摇表：带有手摇直流发电机的兆欧表，俗称摇表 晶体管兆欧表：采用电池供电，晶体管振荡器产生交变电压，经变压器升压及倍压整流后输出直流电压 兆欧表的电压：500、1000、2500、5000V等 兆欧表选择：根据设备电压等级的不同，选用不同电压的兆欧表。例：额定电压1kV及以下者使用1000V兆欧表；1kV以上者使用2500V兆欧表 例：用兆欧表测量电缆绝缘电阻 测量绝缘电阻能发现的缺陷： 总体绝缘质量欠佳 绝缘受潮 两极间有贯穿性的导电通道 绝缘表面情况不良 测量绝缘电阻不能发现的缺陷： 绝缘中的局部缺陷 绝缘的老化 测量绝缘电阻注意事项： 试验前后将试品接地放电 高压测试连线架空 测吸收比和极化指数时，应待电源电压稳定后再接入试品 防止试品向兆欧表反向放电 绕组的影响 绝缘电阻与温度的关系 3.泄漏电流的测量 微安表直读法（两种接法） 直流电源的要求： 输出电压（幅值、极性） 输出电流 电源保护（保护电阻，放电管、并联电容、旁路开关） 注意事项： 与测绝缘电阻相同 电压保持时间1分钟（待电容电流和吸收电流充分衰减），泄漏电流稳定 试验特点： 所加直流电压较高，可以发现一些兆欧表不能发现的缺陷 直流电压逐渐升高，可观察电流与电压关系的线性度 线性刻度，能精确读取 实验二 介质损耗角正切的测量 西林电桥的基本原理 存在外界电磁场干扰时的测量 测试功效 注意事项 测试无线电材料：常采用高频施压法，所加的电压不高 电工界：最常用的是西林电桥法 在线监测：采用微机对tgδ进行测量 1.西林电桥的基本原理 西林电桥： 高压臂：代表试品的Z1；无损耗的标准电容CN，它以阻抗Z2作为代表。 低压臂：处在桥箱体内的可调无感电阻R3，以Z3来代表；无感电阻R4和可调电容C4的并联，以Z4来代表 保护：放电管P 电桥平衡：检流计G检零 屏蔽：消除杂散电容的影响 电桥的平衡条件： Z1/Z3 = Z2/Z4 串联等值回路 tgδ=ωR4 C4 Cx = R4CN/R3 并联等值回路 tgδ=ωR4 C4 Cx = R4CN/[R3 (1+tg2δ)] Cx：因为tg2? 极小，故两种等值电路的Cx相等 屏蔽： 杂散电容：高压引线与低压臂之间有电场的影响，可看作其间有杂散电容Cs。由于低压臂的电位很低，Cx和CN的电容量很小，如CN一般只有50?100pF，杂散电容Cs的引入，会产生测量误差。若附近另有高压源，其间的杂散电容Cs1会引入干扰电流iS，也会造成测量误差 需要屏蔽，消除杂散电容的影响 2.存在外界电磁场干扰时的测量 现场试品：难以实现屏蔽，干扰较严重 两次测量法：第一次测得tg?1和Cx?，然后倒换试验变压器原边电源线的两头(试验电压U的相位转180?)，测得第二次的数值tg?2和Cx?，可用下式计算得准确的tg?和Cx值： 磁场干扰时介损的测量 检流计正反接抗磁场干扰的原理：设无磁干扰时，两个测量臂的数值分别为R3和C4；设存在磁干扰时，两个测量臂的数值分别为(R3+?R3)和(C4+?C4)；把检流计和电桥两臂相接的两端倒换一下，两个测量臂的数值将分别为 (R3－?R3)和(C4－ ? C4) 当检流计正接时测得：  当检流计反接时测得：  因无磁场干扰时：  故可得： 测试功效 有效 受潮 穿透性导电通道 气泡电离、绝缘分层、脱壳 绝缘老化劣化 绝缘油脏污、劣化 无效 局部损坏 小部分绝缘的老化劣化 个别绝缘弱点 注意事项 分部测试 与温度的关系 与试验电压的关系 护环和屏蔽 实验三 工频高压试验 交流耐压：是交流设备的基本耐压方式。适用于≤220kV以下的电力设备。 以变压器为例，如图所示 1.工频高压的产生 工频高压试验