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《材料力学》实验 力学性能试验 一、拉伸试验 二、压缩试验 三、剪切试验 四、扭转试验 应力分析实验 电测法基本原理 五、矩形截面梁的纯弯曲 六、薄壁圆筒的弯扭组合变形 电测法基本原理 电测法基本原理 电测法基本原理 电测法基本原理 电测法基本原理 电测法基本原理 电测法基本原理 电测法基本原理 矩形截面梁的纯弯曲 矩形截面梁的纯弯曲 矩形截面梁的纯弯曲 薄壁圆筒的弯扭组合变形 薄壁圆筒的弯扭组合变形 薄壁圆筒的弯扭组合变形 薄壁圆筒的弯扭组合变形 薄壁圆筒的弯扭组合变形 薄壁圆筒的弯扭组合变形 薄壁圆筒的弯扭组合变形 薄壁圆筒的弯扭组合变形 薄壁圆筒的弯扭组合变形 薄壁圆筒的弯扭组合变形 薄壁圆筒的弯扭组合变形 * 一、电阻应变片 引出线 电阻丝(丝栅) 基底 由试验发现： l 应变片 F F l+Dl K——电阻应变片的 灵敏度系数 应变片：将力学量(应变)转换为 电量(电阻)的传感器 电阻应变片种类： 丝式(绕线式)、箔式、半导体式 二、电阻应变仪 应变测量原理： 利用电桥平衡测量电阻改变， 从而进一步得到应变。 B A D C E R1 R2 R3 R4 电桥平衡(UBD=0)： 若R1~R4为四个阻值相同应变片，受力后，BD间电压改变为： 1．电桥接法： 三、电桥接法及温度补偿 全桥接法(四个电阻均为应变片)； B A D C E R1 R2 R3 R4 半桥接法(R1、R2为应变片， R3、R4为固定电阻) 电测法基本原理 B A D C E R1 R2 R3 R4 由于温度对电阻值变化影响很大，利用电桥特性，可以采用适当的方法消除这种影响。 2．温度补偿： B A D C E R1 R2 R3 R4 工作片 温度补偿片 固定电阻 F F 1．单向应力状态 四、几种常见应力状态下的布片方式及应力计算 轴向拉压、纯弯曲、横力弯曲上下缘 F F R1 R2 R1 R2 温度自补偿，测量电压得到有效放大： 2．已知主应力方向的二向应力状态 扭转、横力弯曲的中性轴、均匀内压的薄壁圆筒 R1 R2 45o 45o 沿已知主应力方向贴片，采用温度自补偿的半桥接法 任一方向的应变 比较 3．不知主应力方向的二向应力状态 主应变为 由广义胡克定律 得 Ⅲ. 主应力方向未知的平面应力状态 (1) 图a所示平面应力状态，当e x, e y ,gxy已知时，可由公式（5-3）,（5-4）,（5-5）求出两个主应变值及其方向。因为gxy难以测量，一般分别测量O点处和x轴分别成aa,ab,ac的三个方向的线应变（图b）。 （a） （b） （c） 由（5-1a）得 联立求解以上三式，求出e x, e y ,gxy后，即可求出主应变。 45o应变花： 90o 0o 45o 120o 0o 60o 60o—3应变花： 2．YJ28A—P1OR型静态数字电阻应变仪。 一、实验目的 1．测定纯弯曲下矩形截面梁横截面上正应力的 分布规律，并与理论值比较； 2．熟悉电测法基本原理和电阻应变仪的使用。 二、实验仪器 1．纯弯曲试验装置； 三、试验原理 1．结构示意图及理论值计算 h b F F/2 F/2 a a + - FQ F/2 F/2 M Fa/2 + m m m—m截面： ——纯弯曲 z y 2．布片示意图及试验值 0 0 1 1 1 1 2 2 2 2 温度补偿片 DF 3．等量逐级加载法： 一、试验目的 1．用电测法测定平面应力状态下一点主应力的 大小及方向； 2．测定薄壁圆管在弯扭组合变形作用下，分别 由弯矩、剪力和扭矩所引起的应力。 二、试验仪器 1．弯扭组合试验装置； 2．YJ28A—P1OR型静态数字电阻应变仪。 三、试验原理 1．结构示意图 a l F I I I-I截面 d D I-I截面 内力： 2．布片示意图 A B C D A、B、C、D四点各贴-45o、0o、45o应变花 D R12 R11 R10 C R9 R8 R7 B R6 R5 R4 A R3 R2 R1 约定蓝线应变片为-45o ，白线为 0o ，绿线为45o 主应力大小： 主应力方向： a是主应力与圆管轴线的夹角 3．等量逐级加载法 4．指定点(B、D)的主应力大小及方向 共用温度补偿片的半桥接法，一个载荷水平下分别测B、D两点6个应变片的应变值 1)实验值： 2)理论值(以B点为例)： B s s t t 内力 应力 按平面应力状态分析得到： s1、 s2、 s3、 a0分别与试验值比较 5．弯矩、扭矩及剪力各自引起应力的测量 1)由于电桥特性均可以自补偿，不需要温度补偿片 2)弯矩M对应的