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用奇异值分解的方法自动检测LCD的缺陷 摘要 目前，Thin film transistor liquid crystal display(TFT-LCD)越来越主流化并且已经在显示设备终端领域里占有统治地位。LCD的表面缺陷不仅引起视觉上的错误，而且会造成电子元件的错误和各种设备功能上的使用错误。在本文里，我们提出了一个global（球体）逼近方法去自动监测TFT面板上的各种细微（肉眼难以发觉）的缺陷。在TFT面板上建立几何结构包括很多由水平的和垂直线划分的小面积元素，这样就可以把面板划分成由结构纹理（structural texture）的图片。这种方法不是依靠纹理的局部特征来描述。它是基于一种用奇异值分解（SVD）而重新构造的球形图片。（It is based on a global image reconstruction scheme using the singular value decomposition (SVD) ）.把图片转换成由像素组成的矩阵，由奇异值组成的对角矩阵代表了不同的图片细节。选择合适的奇异值去描述背景纹理的表面，然后去掉这些奇异值之后再重新构造一个矩阵，这样，就能够消除周期性和反复性的纹理模型图片。，并且保护图片存储过程中的不规则性。在这次试验里面，我们已经评估了TFT面板的的大量的微小，多样的缺陷，包括：小孔，刮痕，小点和指纹，并且结果显示这种