大学物理波动光学光的干涉18-03分振幅干涉案例.pptVIP

* * 如果要观察干涉现象，可以用透镜，在透镜的焦平面上会出现干涉条纹。 * 因为经过薄膜多次反射的光强度已经迅速下降， 算光程差时， 还须考虑光在薄膜上下表面的反射有无半波损失。 一个有半波损失, ?反中就要另加(或减)?/2。 * 在薄膜干涉中，k 取正值。有半波损失时，相干加强的条件中取1,2…，没半波损失时，都取0,1,2… * 结论：相同的入射角对应同一级条纹。因此，称它为薄膜等倾干涉。 光?与光 ?相遇在无穷远，或者在透镜的焦平面上观察它们的相干结果，所以称它为定域干涉。 * * 薄膜厚度在什么情况下才能发生干涉？ * 在反射光中观察和在透射光中观察，光程差总是相差?/2。这就意味着反射光和透射光的明暗条纹恰好相反。这叫条纹互补。这是能量守恒的必然结果。 * 利用薄膜干涉可以提高光学器件的透光率。 * 由于经薄膜上下表面反射的相干光束相交在膜的附近，因此干涉条纹定域在薄膜附近。条纹形状由膜的等厚点轨迹决定。 * 　　比如，可以用两块平面玻璃片。一端叠合，另一端夹一张薄纸，或放一根细金属丝。在两块玻璃片之间形成一个劈尖形的空气薄膜。 两介质片叠合的交线，称为棱边。 * 　　由于θ很小，实际上入射、反射几乎都垂直于空气劈尖表面。 * 由明暗纹条件可以算出各级条纹所对应的劈尖膜的厚度。 * * 由该原理可以测量样品的热膨胀系数。 * 样品受热膨胀斜面上移，劈尖各处的干涉条纹发生明→暗→明(或暗→明→暗)的变化。 * 若工件表面是平的，等厚条纹应为平行于棱边的直线条纹。 * 制造半导体元件时，常常需要精确地测量硅片上的二氧化硅（SiO2）薄膜的厚度，这时可用化学方法把二氧化硅薄膜一部分腐蚀掉，使它成为劈尖状。 * （等厚点轨迹） * 随着环的半径增大，级次 k 越来越大， 　随着干涉级次的增加，相邻明环或暗环的半径之差越来越小，所以牛顿环是内疏外密的一系列同心圆。 而相邻暗环的半径差越来越小， 这说明条纹变得越来越密， 当环的半径足够大时，条纹就变得无法分辨了。 * 干涉膨胀仪 （2）测量固体线膨胀系数 如果观察到某处干涉明纹（或暗纹）移过了N 条，即样品高度增长了Δl ，为: 根据线膨胀系数的定义 l0 为样品在温度为 t0 时的长度。 样品 石英圆柱 * b a ? 工件 标准平面 例：在工件上放一标准平面玻璃，使其间形成一空气劈尖，并观察到弯曲的干涉条纹。试：根据条纹弯曲方向，判断工件表面上纹路是凹还是凸？ 并求：纹路深度 H。 解：由于同一条纹下的空气薄膜厚度相同，由图的纹路弯曲情况知， 工件表面的纹路是凹下去的。 H 由图：H = a sin? 因 ：b sin? = ? / 2, 纹路深度为： （3）检验工件表面的平整度 * （3）检验工件表面的平整度 由于同一条纹下的空气薄膜厚度相同，当待测平面上出现凸起的缺陷时，条纹向右弯曲。 * 例： 所用波长为 ? ，观察到劈尖上A 、 B 处恰为明纹中心，其间共有8 条暗纹。求：SiO2薄膜的厚度。 e 解： 棱边A处 e = 0 0 级明纹 8 条暗纹分别为： k = 0～7， B处明纹应为 k = 8。 4）用劈尖干涉法测膜厚。 * 另解： 由棱边 A 到B 处 相邻条纹对应的薄膜厚度差： 则 有 N 个明纹间隔 例： A 、 B 处恰为明纹中心，其间共有N条暗纹。 4）用劈尖干涉法测膜厚。 e * 练习： 波长 ? 的光垂直入射折射率为 n2 的劈尖薄膜，n1 n2 ，n2 n3 ，如图。求：在反射光中观察，从尖顶算起，第二条明纹对应的薄厚是多少？ 解：由薄膜公式，有 n3 n2 n1 ? ? 显然，取 k = 2； 第二条明纹对应的薄厚为： * （二） 牛顿环 由一块平板玻璃和一曲率较小的平凸透镜组成。 　　用单色平行光垂直照射时，在“环状”劈尖层的上下两个表面的反射光干涉，产生牛顿环干涉条纹。 * * 牛顿环 * 牛顿环实验装置 干涉条纹是以平玻璃与平凸透镜的接触点为圆心的明暗相间逐渐变密的一组同心圆。—— 牛顿环 显微镜 S L M 半透半反镜 T 平凸透镜 平 晶 牛顿环干涉图样 * 光程差 明环 暗环 相干加强、相干减弱的条件： r 牛顿环的半径 r： * 牛顿环的半径 r： （暗环半径） （明环半径） r * 两反射光的光程差 ? =? / 2， 为暗斑