近年来,传感器在朝着灵敏、精确、适应性强、小巧和智能化.pptVIP

按照调制方式分类，光调制可分为：强度调制、相位调制、偏振调制以及频率调制。 同一种光调制技术，可以实现多种物理量的检测；检测同一个物理量可以利用多种光调制技术来实现。 一、 强度调制与解调 光纤传感器中光强度调制是被测对象引起载波光强度变化，从而实现对被测对象进行检测的方式。光强度变化可以直接用光电探测器进行检测。 解调过程主要考虑的是信噪比是否能满足测量精度的要求。 微弯损耗强度调制器的原理如图。当垂直于光纤轴线的应力使光纤发生弯曲时，传输光有一部分会泄漏到包层中去，因此，接收到的光强会有所减少，而减少量与弯曲程度相关。 1. 常用的光强调制技术 (1)微弯效应（光强度内调制） 微弯损耗强度调制器的原理 (a)结构 (b)光纤内的光传输 外调制技术的调制环节通常在光纤外部，因而光纤本身只起传光作用。这里光纤分为两部分：发送光纤和接收光纤。 两种常用的调制器是反射器和遮光屏。 (2)光强度外调制 反射式光调制器的原理 光强调制的优点：结构简单、成本低。 光强调制的缺点：测量精度容易受到外界环境，光纤连接器质量以及光源强度波动的影响。 光波是横波。光振动的电场矢量E和磁场矢量H和光线传播方向S正交。 二、偏振调制与解调 k E H 如图所示，当压电晶体受光照射并在其正交方向上加以高电压，晶体将呈现双折射现象——普克耳效应。在晶体中，两正交的偏振光的相位变化： 1. 调制原理 普克耳（Pockels）效应 re-电光系数；U-电压；l,d-几何参量。 平面偏振光通过带磁性的物体时，其偏振光面发生偏转，这种现象称为法拉第磁光效应，光矢量旋转角： 法拉第磁光效应 在垂直于光波传播方向施加应力，材料将产生双折射现象，其强弱正比于应力。这种现象称为光弹效应。偏振光的相位变化： 光弹效应 k-光弹常数；p-压强；l-材料长度。 利用检偏器即可获得偏振光的偏转角度θ从而获得被测物理量（电场、磁场、应力等）的信息。 2. 解调原理 相位调制的基本原理是：通过被测能量场的作用，使能量场中的一段敏感单模光纤内传播的光波发生相位变化，利用干涉测量技术把相位变化变换为振幅变化，再通过光电探测器进行检测。 三、相位调制与解调 光纤受到纵向（轴向）的机械应力作用时，将产生三个主要的物理效应，导致光纤中光相位的变化： ① 光纤的长度变化—应变效应 ② 光纤芯的直径变化—泊松效应 ③ 光纤芯的折射率变化—光弹效应 1. 引起相位调制的物理效应 应力应变效应 在所有干涉型光纤传感器中，光纤中传播光的相位响应φ都是与待测场中光纤的长度L成正比。这个待测场可以是变化的温度T。由于干涉型光纤传感器中的信号臂光纤可以足够长，因此信号光纤对温度变化有很高的灵敏度。 热胀冷缩效应 2. 相位解调原理 （光外差检测原理） 两束相干光（信号光束和参考光束）同时照射在一光电探测器上，光电流的幅值将与两光束的相位差成函数关系。 推导 两光束的光场相叠加，合成光场的电场分量为 ： 由于光电探测器的响应与光电场的平方成正比，光电流i(t)为 取平均值是因为光电探测器的响应时间远高于光波频率ω，因此光电流实际上是很多光场周期时间内的平均值。 容易知道前两项的平均值部分分别为1/2，第三项为2倍光频，光电探测器无法响应。第四项称为两束光的差频项。当差频(ω1-ω2) 低于光电探测器的截至频率时，探测器将响应差频信号，采取类似电学领域的隔直通交技术滤除常数项信号，则输出光电流将为 当ω1=ω2，光电流为 这是外差检测的一种特殊型式，称为零差检测。 8.3 光纤传感器应用及实例 1. 光纤位移传感器 光源 光电元件 待测距离 传送光纤 接收光纤 待测表面 A B1 B2 (b)原理图 (a)结构 (c)相对光强与位移的关系 光纤液位传感器 (a)Y 型结构(b)U型结构(c)多模光纤耦合 2. 光纤液位传感器 结构特点：光纤测头端有一个圆锥体反射器。当测头置于空气中没接触液面时，光线在圆锥体内发生全内反射而回到光电二极管。 3. 光纤温度传感器 半导体的吸收光谱与材料的Eg有关，而Eg随温度的不同而不同。Eg与温度T的关系可表示为：