基于彩色线扫描技术的解决方案介绍.pptVIP

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如何选择相机?如何评估相机整体性能? Themis成像器件光电性能测试系统 暗电流 光子相应不一致性 光谱响应 信噪比 量子效率 动态范围 Themis成像器件光电性能测试系统 不同相机测试条件与参数定义、单位都不同,如何比较? 到底要如何挑选! Themis成像器件光电性能测试系统 EMVA1288欧洲机器视觉协会测试标准 EMVA1288物理模型 EMVA1288数学模型 Themis成像器件光电性能测试系统 测量项目 总增益(K) DN/e- 随机噪声() DN e- 饱和输出(μe.sat) 最大 DN ke- 线性 DN ke- 动态范围(DR) 最大 X(倍数) dB 线性 X(倍数) dB 最大信噪比 X(倍数) dB DSNU DN e- 暗电流 e-/s 线性度 %(±) PRNU1288 % 图像传感器件量子效率QE % 可测芯片/相机的光电性能 Themis成像器件光电性能测试系统 Themis成像器件光电性能测试系统 凌云测试系统特点: 小巧紧凑、高度集成 支持多种相机接口 一键式操作软件 客户定制化硬件选型 产品受众: 常使用相机的用户:相机横向对比 生产设计相机的用户:原理样机测试、相机出厂检测与标定等 凌云EMVA1288测试系统发展历程 科学定制测试平台 标准型测试平台 紧凑Mini型测试平台 Themis成像器件光电性能测试系统 Themis成像器件光电性能测试系统 凌云公司小型测试平台系统组成 小型化暗舱设计 相机接口 选择1: LED光源 选择2: 积分球 光源 光学接口:C\CS\F\M42等 紧凑Mini型测试平台组成 选择3: 窄带滤光片 数字接口:CamLink\USB\ HS Link\1394等 可测芯片类型:CCD\CMOS\SCMOS\EMCCD\近红外等 Themis成像器件光电性能测试系统 凌云EMVA1288测试系统界面截图 实测参数 测量项目 项目 结果 单位 总增益(K) 0.0955 DN/e- 随机噪声() 3.348 DN 35.06 e- 饱和输出(μe.sat) 最大 4080.47 DN 42.74 ke- 线性 3955.11 DN 41.43 ke- 动态范围(DR) 最大 1218.90 X(倍数) 61.72 dB 线性 1181.45 X(倍数) 61.45 dB 最大信噪比 203.05 X(倍数) 46.15 dB DSNU 0.47 DN 4.90 e- 暗电流 201541 e-/s 线性度 0.243025883 %(±) PRNU1288 1.30 % 图像传感器件量子效率QE 86.38% % 明场均值 明场噪声 暗场均值 方差明暗差 Themis成像器件光电性能测试系统 深圳 北京 上海 陕西 重庆 快速 RT技术平台 support-vision@ 提供随时在线技术支持; marketing@邮箱,零距离您的项目需求。 Themis成像器件光电性能测试系统 * 系统总增益、量子效率、光谱响应、动态范围、信噪比、暗电流、光子响应不一致性、暗场信号不一致性。。。。 * 弹出参数:系统总增益、量子效率、光谱响应、动态范围、信噪比、暗电流、光子响应不一致性、暗场信号不一致性。。。。 * * * * * 系统总增益、量子效率、光谱响应、动态范围、信噪比、暗电流、光子响应不一致性、暗场信号不一致性。。。。 * 弹出参数:系统总增益、量子效率、光谱响应、动态范围、信噪比、暗电流、光子响应不一致性、暗场信号不一致性。。。。 * * * *

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