集成电路设计基础---工艺部分2.ppt

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* * 2.掺杂氧化物的化学气相淀积 二氧化硅要用磷或硼掺杂,可以提高玻璃的介电特性。另外退火时候玻璃能够流动,得到平坦的表面 3. 氧化层抛光(CMP) 4.第九层掩膜(光刻9) “局部互连” 局部互连刻蚀 * LI金属的制作 1.金属钛淀积(PVD工艺) 钛衬垫于局部互联沟道的底部和侧壁上,充当钨和二氧化硅的粘合剂 2. 氮化钛(TiN)淀积 TiN淀积于钛金属层的表面,充当金属钨的阻挡层 3. 钨淀积(CVD工艺) 4. 磨抛钨(CMP工艺) 九.通孔1和钨塞1的形成 * 通孔1的制作 1.第一层层间介质氧化物淀积(CVD) 2.氧化物磨抛(CMP) 3.第十层

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