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部分电子元器件检验规范标准书IC类检验规范(包括BGA)1. 目的作为IQC人员检验IC类物料之依据。2. 适用范围适用于本公司所有IC（包括BGA）之检验。3. 抽样计划依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准（AQL）严重缺点(CR): 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5. 参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确,任何有误,均不可接受。包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检验MAa. 实际包装
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