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OTDR常见曲线分析 长度测量 一般采用两点法，，将受测光纤与尾纤一端相接，尾纤一端连到OTDR上，调整出显示尾纤和受测光纤的后向散射峰。其曲线见图 方法： 将光标A置于第一个菲涅尔反射峰前沿，将光标B置于第二个菲涅尔反射峰前沿，光标A与光标B之间的相对距离差就为被测光纤长度。 光纤衰减的测试 M/DIV DB/DIV 第一个菲涅尔反射峰后沿 第二个菲涅尔反射峰前沿 尾纤 B A 方法：将光标A置于第一个菲涅尔反射峰后沿，曲线平滑的起点，将光标B置于第二个菲涅尔反射峰前沿，光标A与光标B间显示衰减系数就是光纤A、B间衰减系数，但非整根光纤的衰减系数。 典型的后向散射信号曲线 DB/DIV d b c e a M/DIV a、输入端的Fresnel反射区（即盲区） b、恒定斜率区 c、局部缺陷、接续或耦合引起的不连续性 d、光纤缺陷、二次反射余波等引起的反射 e、输出端的Fresnel反射 盲区：决定OTDR所能测到最短距离和最接近距离，是由于活接头的反射引起OTDR接收机饱和所至，盲区通常发生在OTDR面板前的活接头反射，但也可以在光纤的其它地方发生，一般OTDR盲区为100m。 盲区分为衰减盲区和事件盲区 衰减盲区：从反射点开始至接收机恢复到后向散射电平约0.5dB范围内的这段距离,这段距离就是OTDR能再次测试衰减和损耗的点. DB/DIV M/DIV D 仿真反射峰 0.5dB 式中：D的长度就为衰减盲区的长度 事件盲区:从OTDR接收到反射点到开始到OTDR恢复到最高反射点1.5DB以下这段距离,在这以后才能发现是否还有第二个反射点,但还不能测试衰减. DB/DIV M/DIV D1 仿真反射峰 1.5dB 式中：D1的长度就为事件盲区的长度。 影响盲区的因素: a、入射光的脉冲宽度、 b、反射光的脉冲宽度、 c、入射光的脉冲后端形状、 d、所用脉冲越小，盲区越大。 消除盲区的方法： 加尾纤（过渡纤），最好2KM以上 方法：将光标定于曲线的转折处如图位置，然后选择测接头损耗功能键，便可测得接头损耗。 接头损耗的测量 外部因素引起的可能曲线变化 这里的外部因素指施加于光缆并传递至光纤的张力及侧向受力，还有温度的变化。这些都会造成曲线弓形弯曲。外部因素引起的弓形弯曲在外力作用下使曲线斜率改变。如图所示，外力作用前曲线斜率恒定，在外力作用下可出现如下情况之一： 曲线斜率不变，衰减不变 斜率变化，衰减线性增加 整个长度呈弓形弯曲，各处斜率不同：衰减连续增加 沿长度斜率增加，有限区域衰减线性增加 出现台阶，光纤局部压力上升：衰减局部加 波纹曲线图 指曲线有与脉冲频率相似的纹状态曲线。其产生原因有可能是受测光纤工作频率与带宽频率刚好相同,此情况下, 改变测试脉宽，同时应从受测光纤的两端进行测量 实际在测试中最常见的异常曲线、原理和对策 现象：光纤未端无菲涅尔反射峰，曲线斜率、衰减正常，无法确认光纤长度 原因：光纤未端面上比较脏或光纤端面质量差； 对策：清洗光纤未端面或重新做端面； 现象：曲线成明显弓形，衰减严重偏大或偏小，无菲涅尔反射峰； 原因：量程设置错误（不足被测光纤长度2倍以上）； 对策：增大量程 现象：在曲线斜率恒定的曲线中间有一个“小山峰”（背向散射剧烈增强所致） 原因：（1）光纤本身质量原因（小裂纹）； （2）二次反射余波在前端面产生反射； 对策：在这种情况下改变光纤测试量程、脉宽、重新做端面，再测试如“小山峰”消失则为原因（2），如不消失则为原因（1） 现象：在光纤纤连接器、耦合器、熔接点处产生一个明显的增益； 原因：模场直径不匹配造成的； 对策：测试衰减和接头损耗必须双向测试，取平均值 现象：曲线斜率正常，光纤均匀性合格，但两端光纤衰减系数相差很大 原因：模场不均匀造成，一般为光纤拉丝引头和结尾部分； 对策：测试衰减必须双向测试，取平均值 现象：在整根光纤衰减合格，曲线大部分斜率均匀，但在菲涅尔反射峰前沿有一小凹陷 原因：未端几米或几十米光纤受侧压； 对策：复绕观察有无变化 1310nm 1550nm 现象：1310nm光纤曲线平滑，光纤衰减斜率基本不变，衰减指标略微偏高，但1550nm光纤衰减斜率增加，衰减指标偏高； 原因：束管内余长过短，光纤受拉伸； 对策：确认束管内的余长，增加束管内的余长 现象：1310nm光纤曲线平滑，光纤衰减斜率基本正常，衰减指标正常，但1550nm光纤衰减斜率严重不良，衰减指标严重偏高； 原因：束管内余长过长，光纤弯曲半径过小； 对策：确认束管内的余长，减少束管内的余长 现象：尾纤与过渡纤有部分曲线出现有规则的曲线不良，但被测光纤后半部分曲线正常，整根被测光纤衰减指标基本正常； 原因：一般是由设备本身和测试方法综合造