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扫描式电子显微镜技术参数 1. ★总体要求 设备要采用国际上同行业中先进设计思想，成熟的制造技术，必须具有优良的品质和可靠性，必须具有良好的操作性和方便的维修性以及安全性，设备型号必须在制造厂商官网上可查阅到。 2. 主要用途 可用于对各类样品表面微区进行形貌观察和成份含量分析。 3. 工作条件 3.1 工作温度及相对湿度：20°C ± 5°C；80﹪以下； 3.2 电源：220V ( ±10% ) 单相，50Hz； 3.3 相对湿度 65%； 3.4 仪器运行的持久性：长时间连续工作。 4. 扫描电镜 ★4.1 分辨率 二次电子探测器分辨率：3.0 nm （30 KV）；8nm (3 KV )， 背散射电子探测器分辨率： 3.5nm（30kv )。 ★4.2 放大倍数： 最低倍率可达到1倍，最高倍率可达到1000,000。 4.3 真空系统 ★4.3.1 具有高低真空功能,高低真空自动转换； ★4.3.2 样品室真空度：高真空可达到5×10-4 Pa； 低真空范围不小于5-500Pa； 4.4 电子光学系统 4.4.1 电子枪：钨灯丝，具有自动加热及对中的功能，可现实灯丝使用时间； 4.4.2 聚光镜 具有自动可变焦功能； 4.4.3 加速电压:200V-30kV，10V步进可调； 4.4.4电子探针束流：最大束流不小于 2uA，并连续可调。 ★4.4.5电子光学镜筒采用中间镜设计，全自动自动调节，无需机械对中装置，包括电子光路合轴，电子光学设置和校准，可以精确控制束流和束斑尺寸； 4.5 样品室和样品台 ★4.5.1 样品台尺寸：装载直径≥200mm样品； ★4.5.2全自动五轴优中心台：具有全自动五轴马达驱动功能 样品台移动范围：X=130 mm，Y=130mm，Z=100 mm 旋转：360度连续 倾斜：-30度到+90度 更换样品后抽真空时间： 3.5分钟 4.5.3 样品台具有报警与自动停止功能，具有样品位置感知功能。 4.6 探测器及成像系统 ★4.6.1具备高灵敏度YAG晶体二次电子探测器 具备可伸缩的YAG晶体背散射电子探测器 具备用于观察样品室情况的红外摄像机 ★4.6.2 成像模式：同时得到二次电子像，背散射电子像，两种图像混合像，也可四幅图像同时成像，BSE可分别成像，并和SE任意叠加混合； 4.6.3具备五种电子光学工作模式； 4.6.4存储图像像素最大支持16384 × 16384； ★4.6.5扫描速度：从20 ns至10 ms/像素，可阶段或连续式的调整，可进行3维 电子束扫描，电子束沿X和Y轴倾斜扫描实时立体成像。 4.7电镜控制 4.7.1电镜操作控制系统：鼠标、键盘、轨迹球； 4.7.2工作站：Intel? Core 3.6GHz，8GB内存，500GB硬盘，nVIDIA GT630 2GB DDR3，Windows 8 4.7.3完善的软件用于SEM控制，图像采集、存档、处理和分析； ★4.7.4 多用户多语言操作界面，具备中文操作系统。 5. 能谱仪（EDS）部分 5.1该设备可与扫描电镜配套使用，用于材料的微区成分分析，并配备与相关扫描电镜的接口。 5.2 探测器：分析型SDD硅漂移电制冷探测器， 不小于10mm2有效探测面积，超薄窗设计, 无需液氮冷却，仅消耗电能。 5.3 能量分辨率：Mn Ka保证优于129eV, 元素分析范围：Be4～Am95。 6. 扫描电镜配置 随机备件：包括标准附件及工具和消耗品1套（包括备用高寿命钨灯，以及各种保险丝、密封圈、样品托、机械泵油、导电胶带等消耗配件）。 7．售后服务 7.1 厂家免费负责仪器安装、调试，对仪器管理人员提供免费现场培训。 7.2 必须要求由制造商厂家资深工程师安装、调试设备，拒绝由制造商制定代理商的工程师进行设备的安装、调试。 7.3 仪器安装后厂家为仪器管理操作人员2人到国内培训部（或实验室）提供免费培训，并常年设有技术人员提供免费技术咨询和服务。 ★条款为必须满足指标