第二章测试系统.pptVIP

/jc/index.html 第二章 测试系统 制作：孟现柱 mengxz12@ /jc/index.html 2.1 测试系统的分类 传统测试系统由传感器或某些仪表获取信号，再由专门的测试仪器对信号分析处理而获取有限信息。 现代测试系统是指具有自动化、智能化、可编程化等功能的测试系统，它以计算机为中心，数据采集与传感器相结合，能够最大限度完成测试工作的全过程。既能对信号检测，又能对信号处理获取有用信息。 2.1 测试系统的分类 2.1 测试系统的分类 2.1 测试系统的分类 2.2 测试系统的组成 传统检测系统一般由七部分组成：传感器、信号调理、数据采集、信号处理、信号显示、信号输出和输入设备。 现代测试系统中，信号处理、信号显示、信号输出和输入设备通常由计算机完成，因此现代测试系统一般由四部分组成：传感器、信号调理、数据采集、计算机。 2.2 测试系统的组成 2.2 测试系统的组成 2.2 测试系统的组成 2.2 测试系统的组成 2.2 测试系统的组成 2.2 测试系统的组成 2.2 测试系统的组成 2.2 测试系统的组成 2.2 测试系统的组成 2.3测试系统的数学模型 理想测试系统的输出量y(t)与输入量x(t)的变化规律相同。 实际测试系统的输出量y(t)与输入量x(t)只能在一定频率范围内、对应一定动态误差的条件下保持所谓的一致。因为当被测量随时间变化时，系统总存在着机械的、电气的各种惯性，所以检测系统不能实时无失真的反映被测量值。 2.3测试系统的数学模型 被测量随时间变化时的测量称为动态测量。测量系统的动态特性是指在动态测量时，输出量与随时间变化的输入量之间的关系。 系统的动态特性可以用数学模型来描述。描述系统动态特性的数学模型主要有三种：微分方程、传递函数和频率（响应）特性。 2.3.1常见测量系统的数学模型 首先看描述系统动态特性的微分方程： 例1：液柱式温度计（热学系统），当温包温度为T0，小于被测介质温度Ti时，将有热流q流入温包q=(Ti- T0)/Rt=CtdT0/dt 其中Rt—介质的热阻，Ct—温包的比热。令τ=RtCt，则上式可改为τ(dT0/dt)+T0=Ti 2.3.1常见测量系统的数学模型 例2：RC充电电路（电学系统），当电容上的端电压为u0，小于电源电压ui时，将有电流i向电容C充电i=(ui- u0)/R=Ctdu0/dt 其中R—电阻，C—电容。令τ=RC，则上式可改为τ(du0/dt)+u0=ui 2.3.1常见测量系统的数学模型 例3：质量为零的弹簧-阻尼系统（力学系统），弹簧受到作用力F作用后产生位移y(t)和速度(dy0/dx)，在运动过程中受到力F、弹簧弹力F(弹)=-ky、阻力F(阻)=-b (dy/dt)，根据牛顿第二定律F +F(弹)+F(阻)=0×(d2y/dt2) 整理得τ(dy/dt)+y=KfdF 其中τ=b/k，Kfd=1/k，k—弹簧的刚度系数，b—阻尼系数。 2.3.1常见测量系统的数学模型 1、上述系统的数学微分方程都是一阶的，统称一阶系统（惯性环节、非周期环节）。其通式可以写为： τ(dy0/dt)+y=Kfdx 其中y—系统输出量， x—系统输入量，τ—时间常数，Kfd—放大倍数 。 2.3.1常见测量系统的数学模型 例4：质量-弹簧-阻尼系统（力学系统），弹簧受到作用力F作用后产生位移y(t)和速度(dy0/dx)，在运动过程中受到力F、弹簧弹力F(弹)=-ky与阻力F(阻)=-b (dy/dt)，根据牛顿定律F +F(弹)+F(阻)=m(d2y/dt2) 整理得ky+b(dy/dt)+ m(d2y/dt2) =F 其中m—运动部件的质量，k—弹簧的刚度系数，b—阻尼系数。 2.3.1常见测量系统的数学模型 例5：RLC充电电路（电学系统），uR+uL+uc=us，uR=Ri，uL=L(di/dt) ，i=C(duc/dt)，整理得 uc+RC(duc/dt)+ LC(d2uc/dt2) =us 其中us—激励电压，uc—电容电压。 2.3.1常见测量系统的数学模型 上述系统的数学微分方程都是二阶的，统称二阶系统（振荡环节）。其通式可以写为： 2.3.1常见测量系统的数学模型 例6．流体系统 —— 流体系统比较复杂，但经过适当简化也可以用微分方程描述。 可看出：物理本质不同的系统，可以有相同的数学模型。反之，同一数学模型可以描述物理性质不同的系统。因此，可抛开系统的物理属性，用同一数学模型进行普遍意义上的分析研究。 2.3.2 测试系统的时域微分方程 上述几个系统都可以用线性微分方程对系统进行描述，这样的系统叫线性系统。 线性系统服从叠加原理：多个输入同时作用于线性系统的总响应，等于各个输入单独作用时产生的响应之和。 如果线性微分方程