无源器件的偏振相关损耗测量.docVIP

无源器件的偏振相关损耗测量 介绍 PDL已经成为衡量无源光学器件的重要特性。在光网络中，当偏振不在受限并且随机变化时，器件的PDL便会不受控制地累计叠加。这会使得网络的传输质量下降甚至导致网络瘫痪。 测量无源器件PDL有两种被广泛应用的方法:偏振扫描技术（Polarization Scanning Technique）和四态法（the four-state method）。偏振扫描技术是一种易于实现的测量方法并且精确度较高，并且相对来说对操作环境不敏感；但是采用这种方法，测量用于DWDM的无源器件时速度会很慢。在这种情况下，基于四状态法（或Muller法）的扫描波长式PDl测试相对来说有跟高的测量速度。在另一方面，为了达到高精度，Muller法需要更高的系统维护，而且相比扫描法，它的实现需要更大的精力。 本文将对这两种测量方法进行简要的介绍，概要说明其主要难题和主要的误差来源，并对其在当前无源器件测量中的实际应用进行比较。 偏振相关损耗 PDL是光器件或系统在所有偏振状态下的最大传输差值。它是光设备在所有偏振状态下最大传输和最小传输的比率。PDL定义如下： PDL对于光器件的表征至关重要。实际上，每个器件都表现为一种偏振相关传输。由于传输信号的偏振不仅局限于光纤网络之内，因此器件的插入损耗随偏振状态而异。这种效应会沿传输链路不可控制地增长，对传输质量带来严重影响，因为一条