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TEM上機實習Sns報告 班級:碩研機械一甲 姓名:王者璿 學號:ma010222 授課老師:王聖璋老師 TEM原理 TEM是藉由穿透電子束打至試片，再經放大成像，因此，TEM試片其所要觀察的區域薄度，必需達到電子束能穿透的等級；穿透試片的薄度，必須在2?以下。由於TEM具備超高解像能力,在一般影像觀察上即比其他分析工具優越許多,而依實際操作時可放大的倍率範圍來看,TEM也具有相當大的彈性,應用到小尺度奈米材料的研究、分析。 Procedure: sample on double-tilting holder Alignment of TEM for basic observation taking one picture in bright-field(BF)mode condition with the proper magnifications turns to diffraction mode to get one zone pattern of the Au/SnO taking one picture of the DP turn to diffraction node to select one diffraction spot by OBJ aperture and take