质量老七种工具浅析.ppt

7. 计算过程能力指数 在本例中，零件长度规格限为双侧且样本总均值不等于规格中心值，应该根据有偏情形计算过程能力指数。σ根据 极差法估计得出： ，式中d2(n)根据相关控制图 系数表查出，n=5时d2(n)=2.326。则： 修正系数 =0.068 根据题意，由于过程质量要求为过程能力不小于1，显然该过程不能满足要求。因此不能将分析用控制图转化为控制用控制图，应采取措施，提高加工精度。 8. 计算过程平均不合格品率p 根据式（5.10），过程不合格品率为： =0.43%。 五）控制图几种常见的图形及原因分析 在使用控制图时，除了根据表5-3的判断规则对生产过程进行正确判断以外，下面所列出的几种观察和分析方法也是十分重要的： （1）数据点出现上、下循环移动的情形 对于图，其原因可能是季节性的环境影响或操作人员的轮换； 对于R图，其原因可能是维修计划安排上的问题或操作人员的疲劳。 （2）数据点出现朝单一方向变化的趋势 对于图，其原因可能是工具磨损，设备未按期进行检验； 对于R图，原材料的均匀性（变好或变坏）； （3）连续若干点集中出现在某些不同的数值上 对于图，其原因可能是工具磨损，设备未按期进行检验； 对于R图，原因同上。 （4）太多的数据点接近中心线 若连续13点以上落在中心线±σ的带型区域内，此为小概率事件，该情况也应判为异常。出现的原因是：控制图使用太久没有加以修改而失去了控制作用，或者数据不真实。 1．收集数据 在5M1E（人、机、料、法、测量和生产环境）充分固定并加以标准化的情况下，从该生产过程收集n个数据。N应不小于50，最好在100以上。本例测得50个滚珠的直径如下表。其中Li为第i行数据最大值，Si为第i行数据最小值。 表5-1 50个滚珠样本直径 J I 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 Li Si 1 15.0 15.8 15.2 15.1 15.9 14.7 14.8 15.5 15.6 15.3 15.9 14.7 2 15.1 15.3 15.0 15.6 15.7 14.8 14.5 14.2 14.9 14.9 15.7 14.2 3 15.2 15.0 15.3 15.6 15.1 14.9 14.1 14.6 15.8 15.2 15.8 14.1 4 15.9 15.2 15.0 14.9 14.8 14.5 15.1 15.5 15.5 15.5 15.9 14.5 5 15.1 15.0 15.3 14.7 14.5 15.5 15.0 14.7 14.6 14.2 15.5 14.2 直方图事例 下面通过例子介绍直方图如何绘制。 [例5-1] 生产某种滚珠，要求直径x为15.0±1.0mm，试用直方图对生产过程进行统计分析。 2．找出数据中最大值L、最小值S和极差R L=MaxLi=15.9，S=MinSi=14.1，R=S-L=1.8 （5.1） 区间[S，L]称为数据的散布范围。 3．确定数据的大致分组数k 分组数可以按照经验公式k=1+3.322lgn确定。本例取k=6。 4．确定分组组距h （5.2） 1.8 5．计算各组上下限 首先确定第一组下限值，应注意使最小值S包含在第一组中，且使数据观测值不落在上、下限上。故第一组下限值取为：14.05，然后依次加入组距h，便可得各组上下限值。第一组的上限值为第二组的下限值，第二组的下限值加上h为第二组的上限值，其余类推。各组上下限值见表5-2。 表5-2 频数分布表 组序 组界值 组中值bi 频数fi 频率pi 1 14.05~14.35 14.2 3 0.06 2 14.35~14.65 14.5 5 0.10 3 14.65~14.95 14.8 10 0.20 4 14.95~15.25 15.1 15 0.32 5 15.25~14.55 15.4 9 0.16 6 15.55~15.85 15.7 6 0.12 7 15.85~16.15 16.0 2 0.04 合计 50 100% 6．计算各组中心值bi、频数fi和频率pi bi=（第i组下限值+第i组上限值）/2，频数fi就是n个数据落入第i组的数据个数，而频数pi=fi/n（见表14-3）。 7．绘制直方图图5-1频数（频率）直方图 以频数（或频率）为纵坐标，数据观测值为横坐标，以组距为底边，数据观测值落入各组的频数fi（或频率pi）为高，画出一系列矩形，这样就得到图形为频数（或频率）直