电工电子产品基础环境试验规程试验.docVIP

电工电子产品基本环境试验规程电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法 本标准等效采用国际标准IEC68—2—1《基本环境试验规程 试验A寒冷》(1974年版及其第一次补充文件IEC68—2—1(1978)。 1．主题内容与适用范围 本标准规定了电工电子产品基本环境试验规程试验A：低温试验方法。 本标准适用于非散热的电工电子产品(包括元件、设备及其他产品)的低温试验。 2． 概述 2.1 本标准仅限于用来考核或确定电工、电子产品在低温环境条件下贮存和(或)使用的适应性，而不能用来评价试验样品在温度变化期间的耐抗性和工作能力这时应当采用GB2423.22《电工电子产品基本环境试验规程 试验N：温度变化试验方法》。 2.2 本试验方法通常有在条件试验期间能达到温度稳定的试验样品。 2.3 试验时，是将具有室温的试样样品投入试验。当试验样品实际上是和某种特定的安装架一起使用时，则试验时就应使用这些安装架。 2.4 试验持续时间是从试验样品达温度稳定时开始计算；如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定，则试验持续时间从试验箱(室)达到规定试验温度时开始计算。 3．低温试验方法分类及方框图 3.1 低温试验方法分为： a. 非散热试验样品低温试验：试验Aa 温度突变； 试验Ab 温度渐变； b. 散热试验样品低温试验： 试验Ad 温度渐变。 3.2 低温试验方法分类的方框图如下： 4． 各种试验方法的应用对比 4.1 非散热试验样品少和散热试验样品 4.1.1 条件试验期间试验样品温度达到稳定后，在自由空气条件(即没有强迫空气循环)下测量时，试验样品表面上最热点温度高于周围大气温度5℃以上原，认为是散热的；否则为非散热试验样品。 4.1.2 所有贮存试验及试验期间不通电或不加负载的，试验样品均为非散热试验样品，试验采用低温试验方法Ab。 4.2 非散热试验样品：温度突变试验和温度渐变试验 4.2.1 温度突变试验Aa：先将试验箱(室)温度调节到规定试验温度，然后放入具有室温的试验样品。本试验方法适用于已知温度突变对试验样品不产生损伤时。 4.2.2 温度渐变试验Ab：先交椅地具有室温的试验样品放入亦为室温的试验箱(室)内，然后开动冷源将箱(室)温度逐渐冷却到规定试验温度。这种试验方法不会因温度变化对试验样品产生损伤作用。 若由于试验样品太大或过重，或是由于复杂的功能试验接线，在突变试验时不能做到将其放入低温箱而不产生结霜情况时，也应采用试验Ab。 4.3 散热试验样品有和无强迫空气循环的试验 4.3.1 无强迫空气循环的试验：是模拟自由空气条件影响的一种试验。该试验方法是试验散热试验样品的较好的方法。 4.3.2 有强迫空气反循环的试验：该试验方法是当不采用强迫空气循环就难于保证规定的试验条件时，可用试验方法Ad中有强迫空气循环的两种方法：A和方法B。 方法A用于试验箱大到可不用强迫空气循环也能满足试验要求，但在箱内不用强迫空气循环就不能保持规定的低温试验时，即试验箱的冷却(或加热)要求采用强迫空气循环时。 方法B用于这种情况，即试验箱太小或基于别的原因，不用强迫空气循环就不能符合试验要求时。 5 试验设备 5.1试验箱室(室)工作时间内，应能提供6.1条件规定的温度条件，可以用强迫空气循环来保持均匀。 5.2 为了限制辐射影响，箱(室)内壁各部分温度与规定试验温度之差不应超过8%(按开尔文温度计算)，且试验样品不应受到不符合上述要求的任何加热与冷却元件的直接辐射。 6 严酷程度 试验的严酷程度主要取决于试验用的温度等级和持续时间的长短，有关标准应优先从下列数值中选取： 6.1 温度 试验温度应优先从下列数值中选取： ―65，―55，―40，―25，―10，―5，＋5℃ 试验温度的允许偏差范围为±3℃ 6.2 持续时间 在试验样品温度达到稳定后，若尚需进行一定时间的低温条件试验时，其持续时间应从下列时间中选取： 2，16。，72，96h 若试验的目的仅仅是检查试验样品在低温时能否正常工作，则试验的时间只限于使试验样品温度达到稳定；但在任何情况下，持续时间不应少于30min。 当用本标准作为与低温耐久性或可靠性相联系的有关试验时，则其试验所需的持续时间由有关标准规定。 7 有关标准应用于标准时应作出的具体规定 7.1有关标准制订者可根据GB2424.1—87《电工电子产品基本环境试验规程：调温低温试验导则》的指导选定下列参数：a. 试验箱内温度变化的速率； b. 试验样品放入试验箱的时间； c. 试验样品在试验条件下暴露试验开始的时间； d. 试验样品通电或加