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理想半导体材料
原子静止在具有严格周期性晶格的格点位置上
晶体是纯净的,即不含杂质
(与组成晶体材料的元素不同的其它化学元素)
晶格结构是完整的,即具有严格的周期性
实际半导体材料
原子在平衡位置附近振动
含有杂质;
晶格结构不完整,存在缺陷
杂质和缺陷的影响
使周期性势场受到破坏,有可能在禁带中引入能级,从而对半导体的性质产生影响
影响半导体器件的质量(如性能等)
对半导体材料的物理性质和化学性质起决定性的影响(如提高导电率)
本章目的:介绍杂质和缺陷的基本概念
105硅原子中掺1个硼原子,则比单纯硅晶的电导率增加了103倍
杂质
与组成晶体材料的元素不同的其他化学元素
形成原因
原材料纯度不够
制作过程中有玷污
人为的掺入
分类(1):按杂质原子在晶格中所处位置分
间隙式杂质
替位式杂质
杂质原子位于晶格原子的间隙位置
要求杂质原子比较小
杂质原子取代晶格原子而位于格点处
要求杂质原子的大小、价电子壳层结构等均与晶格原子相近
两种类型的杂质可以同时存在
杂质在半导体中的主要存在方式是替位式
分类(2):按杂质所提供载流子的类型分
施主杂质
受主杂质
第V族杂质原子替代第IV族晶体材料原子
能够施放(Discharge)电子而产生导电电子,并形成正电中心的杂质(n型杂质)
第III族杂质原子替代第IV族晶体材料原子
能够接受(Accept)电子而产生导电空穴,并形成负电中心的杂质(p型杂质)
施主杂质(IV-V)
杂质电离
杂质电离能
离化态
中性态
提供载流子:导带电子
杂质电离
在一定能量下,杂质中电子脱离原子束缚而成为导电电子的过程
杂质电离能
杂质电离时所需要的最少能量
ΔED=Ec-ED,一般来说ΔED Eg
离化态
杂质吸收能量释放电子后形成的带电中心
中性态
未电离时称为中性态或者束缚态
受主杂质(IV-III)
杂质电离
杂质电离能
离化态
中性态
提供载流子:价带空穴
小结:
施主杂质和受主杂质都是浅能级杂质
施主杂质能级靠近导带底,受主杂质能级靠近价带顶
杂质电离能非常小
(Eg通常为1ev左右,而ΔED只有零点几个ev左右)
施主杂质和受主杂质为半导体材料提供载流子
施主杂质为导带提供电子
(掺施主杂质的半导体为n型半导体)
受主杂质为价带提供空穴
(掺受主杂质的半导体为p型半导体)
n型半导体:电子的数目远大于空穴的数目(或者说以电子导电为主)
p型半导体:空穴的数目远大于电子的数目(或者说以空穴导电为主)
本征半导体:没有掺杂的半导体
杂质的补偿作用
假设在半导体晶体中同时存在施主杂质和受主杂质,则两种杂质之间有相互抵消作用
NDNA
经补偿后,导带中电子浓度为
ND-NA≈ND
半导体为n型半导体
NAND
经补偿后,导带中空穴浓度为
NA-ND≈NA
半导体为p型半导体
ND ≈ NA
虽然杂质很多,但不能给半导体材料提供更多的电子和空穴
杂质的高度补偿
控制不当,使得ND ≈ NA
施主电子刚好够填满受主能级
虽然杂质很多,但不能给半导体材料提供更多的电子和空穴
一般不能用来制造半导体器件
(易被误认为纯度很高,实质上含杂质很多,性能很差)
本征半导体
电子和空穴的浓度相等,即 ;
n型半导体(掺施主杂质)
主要依靠导带中电子导电的半导体;
电子浓度远大于空穴浓度,即
p型半导体(掺受主杂质)
主要依靠价带中空穴导电的半导体;
空穴浓度远大于电子浓度,即
小结:
分类(3):按杂质原子所提供的能级分
浅能级杂质
深能级杂质
如第IV族材料中加入第III或V族杂质
杂质能级离导带或者价带很近
晶格中原子热振动的能量就足以将浅能级杂质电离
影响半导体载流子浓度,从而改变半导体的导电类型
如第IV族材料中加入非III、V族杂质
杂质能级离导带或者价带很远
常规条件下不易电离
起一定的杂质补偿作用;
对载流子的复合作用非常重要,是很好的复合中心
等电子杂质
与基质晶体原子具有同数量价电子的杂质原子称为等电子杂质(同族原子杂质)
等电子陷阱
概念
等电子杂质替代格点上的同族原子后,基本仍是电中性的,但是由于原子序数不同,原子的共价半径和电负性有差别,因此它们能俘获载流子而成为带电中心,这个带电中心就成为等电子陷阱
形成条件
掺入原子与基质晶体原子在电负性、共价半径等方面有较大差别
等电子杂质电负性大于基质晶体原子的电负性时,替代后,它能俘获电子成为负电中心(相当于提供空穴)
反之,它能俘获空穴成为正电中心(相当于提供导电电子)
杂质的双性行为
硅在砷化镓中既能取代镓而表现出施主杂质,又能取代砷表现出受主杂质
Review
杂质
在纯净半导体中掺入一定量的杂质,可以显著的控制半导体的导电性质(浅能级杂质)和稳定性性能(深能级杂质)
杂质能级
杂质掺入半导体后,
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