基于低速AD相噪测试系统扩展测量频偏实现.pdfVIP

基于低速A／D相噪测试系统扩展测量赎骗侯现 丁孝永 冯克明 (无线电计量测试研究所，北京，100039) 摘 要 针对相位噪声测试系统的应用场合，提出了一种利用低速A／D扩展所能测量的付氏频偏(￡)的 方法。该方法利用相位噪声功率谱密度分布特点和带通取样定理，通过对各类噪声的来源、对频率稳定度的影响 分析，给出了带通取样的思路和相应的MATLAB仿真结果。并结合大规模现场可编程逻辑…(FPGA)、可控滤波 器组及A／D转换器，设计了一套PCI总线的数据采集板和相对应的控制软件及数据处理变换程序。给出了实现的 原理图和试验结果，通过硬件验证该方法的有效性。 关键词 相位噪声带通取样A／D转热器 Tothe A／DToExtendPhase Low Approach Speed NoiseMeasurement SystemFrequencyDeparture DING FENG Xiao—-yongKe—-ming ofRadio and (Institute 100039) MetrologyMeasurement，Beijing AbstractAimedatthe of noisemeasurementmethodis for low applicationphase system．A presentedusing to ameasurementmethodtoextendthe noisemeasure— speed converter(A／D)to phase AnalogDigital approach ment ofthe thedistrubioncharacteristicofthe noise furiye systemrange frequencydeparture(￡)．Using phase and thesourceandcharacteristicofthenoiseandthe powerspectrumdensityband—passsampletheorem，analysed influenceof anideaof andtheresultofMATLIBsimulation． stabilization．Givingbandpasssampling frequency Used andA／Dconversiontoachievedasetof thefield gatearray(FPGA)，control—filtercomponents programable PCIbusdatacollection softwareanddata the in- card，control theorydiagram，FPGA processingp