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基于小波变换的SEM自动聚焦技术.pdf
第29卷第4期增列 仪 器 仪 表 学 报 V01.29No.4
兰塑!笙堡旦 . 堡垒!望里塑!旦坚婴型旦!塾i嬖垡鱼!!璺墨塑堡型 垒竖兰塑墨.
基于小波变换的SEM自动聚焦技术
李勇滔12韩立1
(1中国科学院电工研究所北京100190;
2中国科学院研究生院北京100039)
摘要扫描电子显微镜(S蹦)是用于观测微纳操作的理想仪器。为了快速准确地获取清晰的SEM显微图像,提出一种基于
小波变换的SEM自动聚焦技术。首先,本技术采用基于具有较小分解层数的小波变换的图像清晰度评价函数对SEg显微图像
进行分析评价,并且根据评价结果以大步距遍历搜索函数峰值,直至第一次经过峰值。接着,增加小波分解层数,在利用基
于具有较大分解层数的小波变换的图像清晰度评价函数评价图像之后,以小步距进行局部搜索,直至搜索到清晰的SEM显微
图像,完成S脒的自动聚焦。实验证明该s删自动聚焦技术准确有效,具有较强的鲁棒性和实时性。
关键词SEM显微图像自动聚焦小波交换
SEMAutofocus BasedonWaveletTransform
Technology
Li HanLil
Yongta01·2
Institute 100190
(1 ChineseAcademyofSciences China;
ofElectricalEngineering Beijing
2GraduateSchool 100039
AcademyofSciences China)
ofChinese Beijing
Electron themain
Abstract instrumentfor micro/nano
Scanning Microscope(SEM)is observing manipulation.
to distinct and
Inorder SEM aSEMautofocus
acquire accurately,thispaper technology
imagequickly presents
wavelettransform a Oil
evaluationfunctionbased
using method.First,thistechnologyemployedsharpness
image
transformwith scaleto tothe
wavelet small evaluateSEM
decomposition consecutively,and
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