基于设备级试验信息的串联系统可靠性验证方法研究.pdfVIP

基于设备级试验信息的串联系统 可靠性验证方法研究 李学京 中国科学院数学与系统科学研究院系统科学研究所，北京100080 摘要对于许多大型的复杂系统，进行可靠性验证是比较困难的．针对这一工程难题，奉文提出 了利用设备级信息进行系统的可靠性验证的兽路，并且提供了基于设备级试验信息的串联系统可 靠桂验证的方法．对于指教寿命部件串联系统给出了精确的佩设检验的方法，并蚬威布尔寿命部 件为例．提出了一般寿命部件串联系统近似失效率的置信分布的雨点折合法。模拟效果显示、这 种近似是十分高效的． 关键词可靠性验证假设检验串联系统两点拟合 1引言 可靠性验证试验是许多产品从研制开发阶段向定型生产阶段转型过程中必需经过的一个试验 环节。可靠性验证的目的是通过可靠验证试验来判断产品的可靠性指标是否达到了规定的要求。 按传统的定义，可靠性验证试验包括可靠性鉴定试验和可靠性验收试验，基于可靠性验证试验的 结果．对产品的可靠性指标是否达到设计要求或批产品是否到达规定的可靠性指标要求作出判断。 在且前的工程应用中，可靠性验证试验的对象基本上是电子元器件或电子设备，例如： 较长，因此，对于那些可靠性要求较高或寿命较长的复杂系统，通过常规的可靠性验证试验方法 进行可靠性验证几乎是不可能的。另一方面，在系统研制过程中通常积累了大量的试验信息，因 此，充分利用设备级试验信息进行系统的可靠性验证是一个工程应用价值明显的研究课题。 2统计模型 可靠度验_i正问题等价于如下的统计假设检验问题： ／40：墨≥R§只：墨≤日，0焉R1 (1) 其中R是系统的可靠度真值，墨是可靠度检验下限，也是拒收的可靠度值。统计检验以高概率拒 收R接近焉的设备：R是可靠度的检验上限，它是可接受的可靠度值，统计检验以高概率接收足 接近R的设备。风是零假设．日。是备择假设，接受Ⅳ。则意味着该系统被接受，拒绝^‘则意味 着该批产品被拒绝。． 该检验的判决(决策)风险由生产方风险口、使用方风险卢和鉴定比d组成。其中卢为可靠度 其值等予其检验下限心时设备被接受的概率，当可靠度的萁值低于‰时，设备被接受的概率将低 予卢；口为可靠度真值等于其检验上限时设备被拒收的概率，当真值大于R时设各被拒收的概率 将低于口：鉴定比d=(1一e,o)“l—R)。因此，检验必须满足如下两个约束条件 只(拒绝l丘≥80)≤a及只(接受lR≤R)≤卢 (2) 185 考虑一个由K个独立设备组成的串联系统。假定第，个设备的寿命分布为Fj(t)，则系统在时 刻t之前不失效的概率是R(砷=Ⅱ(1一弓(啪。在咀下内容中，我们研究如何利用系统的组成设务 』-l 的试验数据解决上面所提出的检验问题。 3指数设备串联系统情形 3．1设备的条件联合分布 首先考虑各设备寿命均服从指数分布情形，即Fj(t)=1一exp{-f，8，)t口，为设各的平均寿命参 数，■=110』为设备的失效率，j=l，…，K。由设备的独立性可知，系统的失效率妒=∑l，q。 J。L 因此，若任务时间为f0，则系统可靠度为 置(to)=R印，乇)=cxp(-妒toJ (3) 又设第J个设备共有_个试样同时投入试验t当有0个失效发生时停止试验t记这0个相继失效 数q的完全充分统计量。易知zJ服从参数为-、Oj的伽玛分布，其密度函数为 志‘z内铲啼小l，…，《 (4) 由独立性假设可知，统计量z=(五．…，4)服从多参数指数型分布，其联合密度函数，(zi．…．缸)有 如下形式 ，cz∥．．㈦“协矿)exp掩