基于面阵CCD的瞬态光谱检测方法研究_NoRestriction.pdfVIP

第32卷，第4期 光谱学与光谱分析 201 2年4月 and SpectroscopySpectralAnalysis April，2012 基于面阵CCD的瞬态光谱检测方法研究 朱炳利1’3，白永林孙，王博2，刘百玉2，欧阳娴2，杨文正2， 白晓红2，秦君军2，赵军平2，缑永胜2，卢凯1’3 1．瞬态光学与光子技术国家重点实验室，中国科学院西安光学精密机械研究所，陕西西安710119 2．中国科学院超快诊断技术重点实验室，中国科学院西安光学精密机械研究所，陕西西安 710119 3．中国科学院研究生院，北京 100049 摘要针对瞬态光谱检测中对CCD线扫描速度要求高的特点，提出一种基于面阵CCD的瞬态光谱检测 方法。该方法通过改变面阵CCD的电荷转移方式，以实现基于面阵CCD的高速线扫描。为了探究此方法的 可行性，初步通过改变线阵CCD的电荷转移方式，建立了基于线阵CCD的单点超快探测系统。在发光二极 管(1ightemittingdiode，LED)光脉冲探测实验中，系统分别工作在单点超快探测模式和正常模式下。测试结 果表明，基于线阵CCD的单点超快探测方法是可行的，单点探测速率可达20MHz。从而在理论上证明，通 过改变CCD电荷转移方式以实现基于面阵CCD的瞬态光谱检测也是切实可行的。 关键词 线阵CCD；面阵CCD；CCD高速成像；瞬态光谱检测 中图分类号：0433．1文献标识码：A age 引 言 Mega-framespersecond(Mfps)L87…。但是，这些产品的工艺 复杂，价格昂贵，难以被广泛使用。 科学研究中，经常需要对一些瞬态物理过程，如爆炸、 为了扩展CCD在瞬态光谱检测方面的进一步应用，且 激波和高压放电等进行高速探测。光谱信息获取是分析、研 克服特殊CCD成本高，驱动复杂等缺点，本文在分析CCD 究这些瞬态过程的重要手段，然而这些过程光谱辐射存在时 结构及工作原理的基础上，提出了基于改变面阵CCD电荷 间短、瞬时性高，所以研究、发展高速瞬态光谱检测方法对 转移方式的瞬态光谱检测方法。通过建立基于改变线阵CCD 2。。 工业需求和国防建设有着重大的意义[L 电荷转移方式的单点超快探测系统，对该方法的可行性进行 CCD成像器件是把光学图像转化成一维时序输出电子 了验证，从而为进一步实现面阵CCD高速线扫描的改造打 信号的阵列器件。CCD具有灵敏度好、信噪比高、动态范围 下基础，对扩展CCD在瞬态光谱检测领域的应用意义重大。 大等优点，已被应用于众多检测领域，特别在光谱检测方面 更是以结构简单、易操作、精度高等优势得到广泛应用[3’41。 1基于面阵CCD的瞬态光谱检测方法原理 随着CCD技术的进一步成熟，各种高速CCD被研制出来。 kHz以上， 目前，普通的高速线阵CCD线扫描速率可达70 如图1(a)所示为基于面阵CCD的瞬态光谱检测方法原 使其在一些瞬态光谱检测领域得到应用[5]。然而，由于自身 理图。对于行间转移CCD只让一行(顶行)光敏元曝光，而其 结构的限制，传统技术的高速CCD仍不能满足某些超快、瞬 他光敏元遮光处理。那么，在每次曝光中只有顶行光敏元采 态过程，如微秒及亚微秒范围的光谱探测需求。 集到有效光信息并将其转移到对应垂直移位寄存器。其他光 如何把CCD用于高速、瞬态检测领域一直是人们探索 敏元没有接受光照，其对应寄存器没有积分电荷则处于空闲 的课题。经过不断的发展，各种用于高速成像的特殊CCD被 状态。利用空闲寄存器对顶行光敏元采集的光信息进行高速