VARINA平板校正剖析.docxVIP

6. 平板探测器校正， 6.1 校正准备 1) 将高压发生器的摄影参数调节为 65KV，10mAs 2) 调节折叠臂的高度和长度，设置SID=1.4米。 3) 调节球管-限束器组件中心与探测器表面垂直。 4) 按下限束器灯按钮，调节限束器叶片旋钮，直到光束能照射探测器最大曝光视野（探测器边缘）。 6.2平板校正 6.2.1 校正设置 a) 在开始菜单中，选择viva程序，启动Varian Image Viewing and Acquisition（VIVA）程序，弹出如下VIVA主界面： b) 点击“Acquisition”，在下拉菜单中，点击“System Settings…”选项，弹出系统设置对话框，将Image Corrections下“Offset Corrections”“Gain Corrections”“Pixel Defect Map”“T Pixel Correction”四个选项前的“√”去掉，点击“OK”按钮，完成设置： c) 点击“Acquisition”，在下拉菜单中，点击“hardware Acquisition”，使“hardwareshaking”菜单前出现“√”号。 6.2.2 校正 1） Offset Calibration校正 a) 选择Acquisition→Offset Calibration选项： b) 在下拉菜单中，点击“Offset Calibration”选项，弹出偏移校正对话框，等待。 c) 系统自动执行偏移校正，直至完成。 2）Gain Calibration校正 a) 将摄影条件设置为：65KV，10mAs，大焦。点击按钮,等待出现如下界面 按曝光收开关进行曝光， 点击Cancel 将鼠标箭头移至图像上方，在软件左下方读出各点的ADU值 ，图像上ADU平均值推荐为8000，如果ADU平均值大了则将曝光条件减小，若ADU平均值小了则增大曝光条件继续重复以上操作，直到接近ADU平均值8000，最后将此曝光条件定为Gain Calibration的曝光条件。 b) 选择Acquisition→Gain Calibration项，弹出如下对话框，点击“OK”按钮，弹出增益校正对话框，系统自动检测。 c) 当系统自动检测完成后，弹出如下对话框，等出现“X-ray exposure in progress..Frame count:0”提示信息时，按发生器手闸曝光，曝光结束后，提示信息“Frame count:0”中的“0”变为“1”时，等待20秒左右，图像自动处理后，按发生器手闸第2次曝光……， 连续曝光8次，点击“Finish”完成增益校正。 校正完成后点击“Acquisition”，在下拉菜单中，点击“System Settings…”选项，弹出系统设置对话框，将Image Corrections下“Offset Corrections”“Gain Corrections” 成设置：“Pixel Defect Map”“T Pixel Correction”四个选项前打“√”，点击“OK”按钮完成。 注意：Gain Calibration校正应该定期执行，一般三个月一次?。 6.3坏像素校正。 1) 设置高压发生器曝光参数，设置原则是使所拍摄的模板中间不穿透，有效区域内不泛白。参考摄影参数： 65 KV，10 mAs ，大焦。 2) 运行VIVA软件，等待运行成功后，点击按钮： 按下曝光手闸，等待出现如下界面： 点击，弹出下图。 点击Tools，在下拉菜单中点击Defects菜单里的Defect Map Editor…选项如下图： 图4-12 弹出如下对话框，点击Yes： 进入下图， 将最右边的图像拉到图像显示区，将图像放大寻找到坏像素点或坏线。 3) 坏点修补方法： 将鼠标箭头放到坏点中心，记下图像左下角的坐标，在中填入坐标，如：1472，792，然后点击ENTER键完成输入。 4) 横向坏线修补方法： 将鼠标箭头放在横线的最左边的坏点坐标上记录该点坐标，将鼠标箭头放在横线的最右边的坏点坐标上记录该点坐标，在中填入最左边坐标的像素坐标和最右边的坐标，如，然后点击ENTER键完成输入。 5) 纵向坏线修补方法： 将鼠标箭头放在纵线的最上边的坏点坐标上记录该点坐标，将鼠标箭头放在纵线的下边的坏点坐标上记录该点坐标，在中填入最上边坐标的像素坐标和最下边的坐标，如，输入后点击ENTER键完成输入。 6) 完成所有坏点坏线输入后，点击，等待保存完毕，点击Close，关闭界面。 6.4标尺校正 1) 启动TestDRControl程序，弹出如下主界面： 图4-15 注意：在启动TestDRControl校正程序时，必须确认控制台程序DRControl.exe已关闭。  2)