测量系统分析MSA重点.pptVIP

测量数据的质量 测量数据的质量 稳定条件下运行某一测量系统得到的多次测量结果的统计特性 偏差太大或变差太大都将直接导致低质量的测量数据 术 语 测量 赋值给具体事物以表示他们之间关于特殊特性的关系 量具 任何用来获取测量结果的装置，经常用来特指用在车间的装置，包括用来测量合格/不合格装置 测量系统 用来对测量单元进行量化或对被测特性进行评估，所使用的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、设备、软件、人员、环境及假设的集合；用来获得测量结果的整个过程 术 语 分辨力（率） 分辨率（力）——测量系统能发现并真实地表示被测特性很小变化的能力 别名：最小可读单位、测量解析度、最小刻度极限或探测的最小极限 一个仪器测量或输出的最小刻度单位 通常被显示为测量单位 10：1 （过程变差或公差）的比例法则 术 语 参考值 某一个物品的可接受数的值 需要一个可操作的定义 常被用来代替真值的使用 真值 物品的实际数值 不可知的且无法知道的 术 语 准确度 重复测量均值与真值间的一致性。表示测量系统误差大小。常用绝对值表示，即偏倚的绝对值。与真值或可接受的参考值“接近”的程度 精密度 表示测量随机误差大小，常用标准差表示 术 语 偏倚 观测到的测量值的平均值与参考值之间的差值 是测量系统的系统误差所构成 术 语 稳定性（漂移） 随时间变化的偏倚值 一个稳定的测量过程在位置方面是处于统计上受控状态 术 语 线性 在量具正常工作量程内的偏倚变化量 多个独立的偏倚误差在量具工作量程内的关系 是测量系统的系统误差所构成 术 语 重复性 一位评价人使用一种测量仪器，对同一零件的同一特性进行多次测量下的变差 是在固定和已定义的测量条件下，连续（短期内）多次测量中的变差 通常被称为E.V.-设备变差 设备(量具)的能力或潜能 术 语 再现性 由不同的评价人使用同一个量具,测量一个零件的同一特性时产生的测量平均值的变差 在对于产品和过程进行鉴定时,误差可能是评价人、环境(时间)或方法 通常被称为A.V-评价人变差 术 语 GRR或量具的重复性和再现性 量具的重复性和再现性:测量系统重复性和再现性联合评估值 测量系统能力:取决于使用的方法,可能包括或不包括时间影响 测量过程 测量系统统计特性 理想的测量系统在每次测量时，应只产生“正确”的测量结果，每次测量结果总应该与一个标准值相符 一个能产生理想测量结果的测量系统，应具零方差、零偏倚、和对所测的任何产品错误分类为零概率的统计特性 优良测量系统的基本特性 足够的分辨率（10：1原则） 具统计稳定性、亦即测量系统的变差只能是由于普通原因而非特殊原因造成的 测量系统的变异须小于规格公差或过程变异 测量过程 变异源 测量系统变差的影响 对产品决策的影响 第一类错误（生产者风险/假警报）：一个好的零件有时被误判为“不合格” 第二类错误（消费者风险/漏判率）：一个不合格的零件有时被误判为“合格” 测量系统变差的影响 对产品决策的影响 测量系统变差的影响 对过程决策的影响 将普通原因判断为特殊原因 将特殊原因判断为普通原因 （Cp）观察 =(Cp）实际+ （Cp）测量系统 测量系统变差的影响 评估测量系统 三个基本要素 足够的分辨率 稳定 统计特性（误差）在预期量程是一致的，且足够用以测量用途 评估测量系统 分辨率 测量系统检出并如实指示被测量特性中极小变化的能力 若不能测量出过程的变差，这种分辨率用于分析是不可接受的 若不能测定出特殊原因的变差，这种分辨率用于控制是不可接受的 不可接受的分辨率可通过极差图最好的显示出来 数据分级的影响 测量系统变差可能的原因 偏倚 a)基准的误差 b)磨损的量具 c)制造的仪器尺寸不对 d)仪器没有正确校准 e)评价人使用仪器不正确 测量系统变差可能的原因 稳定性 a)仪器需要校正,减小校正周期 b)正常的老化 c)仪器维护不足 d)仪器设计或方法问题 线性 工作范围上限/下限内仪器没有正确校准 最大或最小值校准量具的误差 磨损的仪器 测量系统变差可能的原因 重复性 仪器需要维护 量具应重新设计来提高刚度 夹紧及检验点需要改进 再现性 评价人需要更好的培训如何使用量具仪器及读数 量具刻度盘上的读数不清楚 需要某种夹具帮助评价人提高使用量具的一致性 测量系统研究准备 计划将要使用的方法 例如通过工程决策,直接观察或量具研究决定,是否评价人在校准或使用仪器时产生影响;有些测量系统的再现性可以忽略,例如按键 评价人数量、样品数量、及重复读数次数应预先确定 尺寸的关键性-关键尺寸需要更多的样品和/或试验 零件规格-大而重的零件可规定较少样品及较多试验 评价人的选择应从日常操作该仪器的人中选出 测量系统研究准备 样品选择对