热控涂层光谱吸收率理论计算.pdfVIP

中围T程热物理学会 传热传质学 笫／ 届学术会泌 编：j：0531l： 热控涂层光谱吸收率理论计算 张伟清，宣益民，韩玉阁 (南京理工夫学动力工程学院，江茅南京210094) 有机[』漆为倒，计算r热摔涂层的表j!!l}光谱吸收率，考察分析j，热拄涂层材利光爵复折射：簪、热挣涂 层几何厚度、粒了体积份额、入射角等吲素的影响。 关键词：热控涂层；表观光谱吸收率：粒子体积份额；入射角 0引言 热控涂层作为一种被动热控制措施，1‘泛应用于。p展热控制中。涂料型热控涂层(简称 为热控涂层)是一种重要的热控涂层，它主要由基料希I，1i一定体积份额的颜料粒子组成， 如幽1所示。热控涂层太阳吸收率a。是衡量热控涂层吸收性能的重要参数，它由热控 涂层表观光谱吸收率口，决定。除了受材料复折射率、热控涂层几何厚度、粒子体积份 额、粒径人小等冈素影响以外，热控涂层表观光 谱吸收率甜，还受热控涂层界面反射特性影响，如 果热控涂层与真空环境相接触的界面为镜反射 表面，那么热控涂层表观光谱吸收率口，还受辐射 能量入射角影响，国内外在这方面作了许多研究 I．作【1。71。热控涂层表观光谱吸收率a。计算的难 点之一是要研究、r透明吸收、散射性介质内的辐 幽1热控泺层结构q；意幽 射能龄传递过科，现阶段研究方法士要有射线踪 迹法、蒙特}洛法、热流法、离散坐标法等方法。由丁射线踪迹法只对每三问位置离散， 对空问立体角不进行离散而是采取直接积分的办法，冈此该方法具ff较高计雉精度，文 献『3-41通过对塥射能譬再分配，利刚射线踪迹法解决了、F透明吸收、散射性介质内的辐 射能量传递，扩展了射线踪迹法的应州范嗣，本文称之为基丁辐射能量再分配的射线踪 迹法，rav methodbasedonredistributionofradiation tracing 热控涂层JLM厚度、粒子体积份额、入射角等冈素的影响。 1计算模型 在建立热控涂层表观光谱吸收率口．计葬模型之前，阿先对RTM．RRE进行简单介 }‰4i考虑介质散射时的辐射传递系数(巧y，)可以由射线踪迹法计算得剑。巾J介质埘 辐射能鼙还存在散射作州，冈此被单元体衰减的辐射能龄除，做单厄体吸收以外，!I氽 1618 部分还要被单元体散射，辐射能姑还要进行重新分配。文献[3_4]把散射辐射能过石作单 元体的再次发射，通过若干次介质散射，使介质总的散射辐射能草小J：颅殴的控制精度 eps，完成辐射传递系数的计算。 幽l为热控涂层结构示意幽， 粒子体积份额为f、热控涂层儿何 s。 、丁 厚度为￡、粒子光谱复折射率n。， 基料光谱复折射率ill、，。 L 热控涂层对辐射能量的衰减包 括两方面：(1)基料对辐射能量的吸 幽2卡透l鲥雌收、敞蚶件『卜质物理模型 收：(2)粒子群对辐射能量的吸收， 以及散射。由于本文采用RTM-RRE来研究热控涂层内的辐射能颦传递，冈此r面要采 用Mie氏理论建立与热控涂层相对应的半透明吸收、散射性介质(简称介质)物理模刑， 确定介质光谱散射率∞。、介质光谱衰减系数■。 介质光谱衰减系数k可以由式(1)计算得到： 、，。) r。=芷，，。十兰!里≥盟(1 式中，％』为粒子群光谱衰减系数。 介质光谱散射率∞，是非常重要的一个参数，它代表了介质对辐射能量的敬射拌度 可以由式(2)计算得到： 2 0)2 式中，丘。。为粒子群光谱散射系数c介质吸收率仉代表了介