热激励碳化硅微桥谐振器幅频特性研究.pdf

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热激励碳化硅微桥谐振器幅频特性研究.pdf

2005年11月 第十四届全国半导体集成电路、硅材料学术会议 珠海 热激励碳化硅微桥谐振器幅频特性研究 于建旺,李跃进,李俊杰 (西安电子科技大学微电子所,西安710071) 摘要: 建立了真空中热激励碳化硅谐振器谐振器简化模型,并用解析的方法,考 虑内应力的影响,推导了出了器件的幅频公式,得出了利用有限元软件ANSYS9.0对 碳化硅微桥谐振器进行了仿真,振幅仿真结果与理论计算结果符合较好,且真空中品 质因数Q大于25000。 关键词: 热激励微桥幅频特性有限元分析碳化硅 characterof Amplitude.frequencyThermally ExcitedMicromechanicalResonator Bridge Abstract:Arational structureofthe excitedmicromechanicalin sample thermally bridge vacuumwasbuilt.The character of excited Amplitude—frequencyamplitudethermally micromechanicalresonatorswas onthermal andthe calculated,based theory bridge expansion influenceofintemalstress.ANSYSwas tosimulatetheSiCmicromechanical applied bridge. Theresultisconsistentwiththe andtheis23000invacuum. theory Q words:thermal key excitation;micromechanical character; bridge;Amplitude—frequency finiteelement analysis;SiC; l 引言 微谐振器件广泛应用于力学量微型传感器中,它是通过检测振动元件的谐振频率或振 幅的变化来测量应变、应力、加速度、压力、质量变化以及流量等,具有体积小、质量轻、 功耗低、精度高、响应快、长期稳定性好u1以及与大规模集成电路工艺兼容,易批量生产等 优点,性能远优于压阻、电容和静电等结构的传感器。微谐振式硅桥压力传感1器的漂移已 低于0.01%F.S.,年稳定性为0.01%温度系数小于5×10一/K。具有优异热、机械性能 的碳化硅,可以制作工作温度更高,性能更好的热激励谐振器件。目前国外研究较多的是 碳化硅梳型RF谐振器件, 本文用解析方法求解了交变热源激励的微桥谐振器的温度分布。基于该温度分布,考 虑内应力对振幅的影响,导出了“热膨胀效应”作用下微桥谐振器幅频关系和谐振振幅., 最后用有限元分析软件进行了谐响应分析,分析数据与计算数据符合性较好。 2 热激励SiC微桥谐振器的温度分布和振幅分析 2.1 热激励微桥的结构 热激励碳化硅微悬臂桥谐振器由二氧化硅薄膜或金属镀膜(厚度h。)与碳化硅层(厚 度h2)构成,电热激励微桥谐振器结构剖面图如图1(a)所示,光热激励微桥谐振器没有 激励电阻和压敏电桥。设桥长为L,宽为b,hxh。,以桥的中心为坐标原点,建立如图2(b) 所示的坐标系。 国家科技预研项目资助(41308060105) 教育部重点宽禁带半导体实验室资助项目

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