半导体照明技术:第十四章发光二极管的可靠性讲述.ppt

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半导体照明技术:第十四章发光二极管的可靠性讲述

第十四章 发光二极管的可靠性 发光二极管的可靠性 较之传统的LED,照明LED的输入功率更大,应用环境和条件更加恶劣和严苛,这对LED的可靠性提出了更高的要求。 发光二极管的可靠性是指它们对热、电、机械等应力的承受能力。 可靠性必须进行大量的试验或调查研究,才能对产品的可靠度、失效率、寿命特征进行统计和估算。 14.1.1 可靠性的含义 含义:产品在规定条件下和规定的时间内,完成规定功能的能力。 规定的条件不同,产品的可靠性也不同。规定的条件包括:环境条件、负荷大小、工作方式和使用方式等。 一般情况下,温度越高,额定负荷越大,产品可靠性就越低。同时,产品可靠性随着时间的推移而降低。 14.1.2 可靠性的定义 在实际工作中,一个发光二极管由于各种偶然的因素而失效,具有一定的随机性。但大量的样品的失效统计具有规律性。 当投入实验的样品充分大时,在某个时刻t时,失效的样品数m(t)与试验样品数n的比值,失效发生的概率,具有一定的规律。 将可靠性用概率表示时为可靠度R: 把抽象的可靠性用数学形式的概率表示,这就是可靠性技术发展的出发点 14.1.3 LED可靠性的相关概念 失效:执行规定功能(如光通量、发光效率、正向压降、反向漏电流等)的能力的终止 严重失效:关键的光电参数改变至LED不能点亮的程度。 参数失效:关键的光电参数由初始值改变至超过一定程度。 失效率(λ):单位工作时间内LED严重失效数的百分比 14.1.3 LED可靠性的相关概念 大量的实验发现,LED的失效随时间的统计分布规律呈浴盆状 段,又称随机失效阶段。失效率很低且很稳定,近似为常数,器件失效往往带偶然性,为使用最佳期。 第三阶段:损耗失效阶段。失效率明显上升,大部分器件相继出现失效。 第一阶段:早期失效或老化阶段。失效发生在产品使用的初期,失效率较高,随工作时间的延长而迅速下降。 第二阶段:有效寿命阶 可靠性:产品在规定的条件下和规定的时间内,完成规定功能的能力 工作条件 规定时间:同一工作条件下,保持的时间越长,可靠性越高 可靠性=固有可靠性+应用可靠性 14.1.3 LED可靠性的相关概念 环境条件 负荷条件 工作方式 气候环境 机械环境 :电、热、力等应力条件 :连续工作、间断工作、存储状态 14.1.3 LED可靠性的相关概念 平均无故障时间(MTTF)=1/λ, λ为失效率 λ与MTTF示例:1M器件小时=0.1%(每1000小时) 在不同的温度上估算失效率 Ea为激活能,一般取0.43eV, K为玻尔兹曼常数, T为绝对温度 系数可靠度: n个同样器件组成的系统: 14.1.3 LED可靠性的相关概念 寿命是定量表征LED可靠性的一物理量。在某一个特定LED个体发生失效之前,难以标明其确切的寿命值。 但明确了某一批LED产品的失效率特征后,就可以得到表征其可靠性的若干寿命特征量,如平均寿命、可靠寿命、中位寿命、特征寿命等。 14.1.3 LED可靠性的相关概念 平均寿命:指一批电子器件产品寿命的平均值 平均寿命是电子器件最常用的一种寿命特征量 可靠寿命TR:一批电子器件产品的可靠度下降到r时,所经历的工作时间 14.1.3 LED可靠性的相关概念 中位寿命:产品的可靠度R(t)降为50%时的寿命 特征寿命:产品的可靠度R(t)降为1/e时的寿命 LED的寿命:业界通常以“半衰期”即光输出下降到起始值50%或70%时的时间作为LED的寿命 14.2 LED的失效分析 LED失效机理: 影响固有可靠性 a. 封装失效 b. 芯片失效 LED失效分析表如216页表14-2所示 影响应用可靠性 c. 电过应力失效 d. 热过应力失效 e. 装配失效 一方面要努力提高LED的固有可靠性,最大限度地消除来自于应用端的不利因素 另一方面还要悉心指导应用端用好LED,以提高LED的应用可靠性。 14.2.1芯片的退化 退化机理:体发光效率的退化和PN结空间电荷层中的复合增加造成的注入效率的退化。 发光效率的退化:非辐射复合中心的增加、晶体缺陷的产生、表面的劣化等。 空间电荷层中的非辐射复合是一种重要的退化机制。这种退化形式明显的表现在I-V特性的老化上。 非辐射复合主要由杂质、弗兰克尔缺陷、化学计量比偏离、位错等引起。上述现象能在带隙中形成深能级。 14.2.1芯片的退化 退化因素示例: 快扩散的重金属离子的影响是其中之一。典型的例子是铜污染的LED器件,发光效率下降速度很快。 沿110方向的位错网络是造成砷化镓激光器和磷化镓绿色LED退化的原因。 非辐射的俄歇复合是材料体发光效率退化

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