材料分析方法绪论.pptVIP

* 一、衰减规律和吸收系数 质量吸收系数与波长 ? 和原子序数 Z 的关系 如图1-8所示， 吸收系数在某些波长位置突然升高， 所 对应的波长称为吸收限 每种物质都有其特定的一 系列吸收限，吸收限是吸 收元素的特征量，将这种 带有特征吸收限的吸收系 数曲线称该物质的吸收谱 为什么会存在吸收限？ 图1-8 质量吸收系数与波长的关系曲线 第三节 X射线与物质的相互作用 * 第三节 X射线与物质的相互作用 二、X射线的真吸收 光电效应 当 入射X射线光量子能量等 于或略大于吸收体原子某壳层电 子的结合能时，电子易获得能量 从内层逸出，成为自由电子，称 为光电子，这种光子击出电子的 现象称为光电效应。将消耗大量 入射能量，导致吸收系数突增 光电效应引起的入射能量消耗为 真吸收，真吸收还包括热效应 光电效应、荧光效应和俄歇效应过程示意图 * 第三节 X射线与物质的相互作用 二、X射线的真吸收 荧光效应 因光电效应处于相应的激发 态的原子，将随之发生如前所述 的外层电子向内层跃迁的过程， 同时辐射出特征 X射线，称 X射 线激发产生的特征辐射为二次特 征辐射，称这种光致发光的现象 为荧光效应 光电效应、荧光效应和俄歇效应过程示意图 * 第三节 X射线与物质的相互作用 二、X射线的真吸收 荧光效应 欲激发原子产生K、L、M等线系的荧光辐射，入射X 射 线光量子的能量必须大于或至少等于从原子中击出一个K、 L、M层电子所需的能量WK、WL、WM，如， WK = h?K = hc /?K (1-17) 式中，?K、?K 是产生K系荧光辐射时，入射X射线须具有的 频率和波长的临界值。荧光辐射将导致入射X射线的大量吸 收，故称 ?K、 ?L、?M 等为被照射物质的吸收限 对于同一元素， ?K ?K? ?K? ，此为同一元素的X射线 发射谱与其吸收谱的关系 * 第三节 X射线与物质的相互作用 二、X射线的真吸收 俄歇效应 原子K层电子被击出后， L 层一个电子跃入 K层填补空位， 而另一个L层电子获得能量逸出 原子成为俄歇电子，称这种一个 K层空位被两个 L 层空位代替的 过程为俄歇效应 荧光X射线和俄歇电子均为物质 的化学成分信号。荧光X射线用 于重元素的成分分析，俄歇电子 用于表面轻元素分析 光电效应、荧光效应和俄歇效应过程示意图 * 二、X射线的真吸收 吸收限的应用 如图1-9所示，可利用吸收 限两侧吸收系数差别很大 的现象选用滤波片，用以 吸收不需要的辐射，而得 到基本单色的X射线 图1-9 滤波片原理示意图 第三节 X射线与物质的相互作用 * 二、X射线的真吸收 吸收限的应用 参照图1-9，可选择一种合适的材料，使其吸收限恰好位 于特征谱的K?和K?波长之间，且尽可能靠近K?线波长。把这 种材料制成薄片—滤波片，置于入射线光路中，将强烈吸收 K?线，而对 K? 线吸收很少，可以获得基本上为单色的辐射 常用靶材的滤波片选择见表1-2，滤波片比靶材的原子序 数小1~2，通过调整滤波片厚度，使滤波后I K? /I K?≈1/600 当 Z靶 ? 40 时，Z滤 = Z靶 - 1 当 Z靶 ? 40 时，Z滤 = Z靶 - 2 第三节 X射线与物质的相互作用 * 二、X射线的真吸收 吸收限的应用 阳