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光声效应实验教学分析(共4460字) 摘要：搭建了教学用光声效应实验装置，使用３种粒度的硅粉进行扫频光声检测，比较了非共振频率区和共振频率区的硅粉光声信号幅值特征．该实验装置为学生开展光声效应实验提供了基础平台，基于此平台可以设计光声盒，测量固体材料的热学参量，开发调制电路和数字锁相放大器． 关键词：光声效应；幅频特性；扫频光声检测 物质在强度调制光束的照射下会在其内部或其耦合气体中产生声信号，这种现象被称为光声效应［１－２］．１８８０年Ａ．Ｇ．Ｂｅｌｌ首次报道了光声效应，１９３８年光声效应开始在气体波谱测量和成分分析领域使用，１９７３年以后光声效应被应用于非气态物质物性分析，现已发展成在自然科学、工程技术的诸多领域有着广泛应用的光声检测技术［３－９］．光声检测技术能测定物质的吸收光谱、热学参量，能对固体材料进行深度剖面分析．鉴于光声检测技术应用的广泛性，本文介绍一套自行搭建的教学用光声检测实验装置．利用该装置学生能进行光声效应原理实验，获得光声信号依赖于被测样品的光学和热学性质的感性认识，理解光声检测技术的内涵． １实验原理及装置 是光声效应实验系统框图．在激光器电源的驱动下，半导体激光器发出强度调制光束．激光束透过光声盒的玻璃窗口，投射到被测样品表面．样品吸收光能，向紧邻样品表面的边界（气体）层传导周期性热流，导致边界层温度的周期性变化和边界层的周期性膨胀、收缩．这像１只活塞推动光声盒内气柱的其余部分产生声压信号［１］．声压信号由传声器及其前置放大器转换成电压信号．光声电压信号输入锁相放大器检测并输入示波器显示．激光器电源的调制信号和示波器的同步触发信号均来自锁相放大器的ＴＴＬ信号输出．ＴＴＬ信号的频率决定激光强度的调制频率以及光声信号的频率．该频率可通过锁相放大器前面板上的频率调节手轮选定．光声信号通常很微弱，需要采用锁相（对周期信号）、取样积分（对重复脉冲信号）等微弱信号检测技术将其从较强的噪声背景中检出．只有当光声信号足够大时，才能直接供示波器显示．由于采用连续波调制的半导体激光器（上海熙隆光电科技有限公司，型号ＤＬ－４５０－１２００－Ｔ２，波长４５０ｎｍ，功率１．２Ｗ）作为光声信号的激励源，被测样品又为对光易吸收的粉末，实验装置中既使用了锁相放大器（美国ＳｔａｎｆｏｒｄＲｅｓｅａｒｃｈＳｙｓ－ｔｅｍ，型号ＳＲ８３０，频率范围１ｍＨｚ～１０２．４ｋＨｚ）来检测光声信号的幅值和相位，又使用了普通示波器直接显示光声信号波形．实验装置中，光声盒由一只１″水管内丝铜三通接头制作．为保证光声盒的密封性，在三通接头的上端面用环氧树脂胶接窗口玻璃，在三通接头的下端和水平出口端拧上缠有密封带的堵头．传声器选用６ｍｍ×５ｍｍ的驻极体传声器，用密封带包紧塞入三通接头水平出口端堵头中心预钻的小孔．传声器的前置放大器为自制电路．图２为实验装置实物照片，图２（ｂ）局部放大照片的上端为激光器，下端为光声盒． ２实验内容、过程及结果 ２．１不同粒度硅粉的扫频光声检测 为检验实验装置的性能，首先进行了３种粒度硅粉的扫频光声检测实验．实验过程是：１）将已筛分好的－２００～＋２８０目、－１００～＋２００目和＋１００目９９．５％纯度硅粉分次装入光声盒的下堵头底部，并将堵头拧入光声盒下端口．２）将光声盒置于激光器下方，调整光声盒的水平位置，使激光束（光斑大小３ｍｍ×３ｍｍ）照射到硅粉区域中央．３）在锁相放大器的前面板上，缓慢旋转频率调节手轮改变激光调制频率，观察光声信号幅值的变化；在频率改变较大而光声信号幅值仍单调上升／下降和光声信号出现极值情况下，暂停改变频率，记录光声信号的幅值和相位．实验时，激光功率为０．６Ｗ，频率扫描覆盖整个音频范围．图３给出了３种粒度硅粉的光声信号幅值随激光调制频率的变化．图３中曲线有一系列峰值结构，并且峰值出现的位置基本一致．这些峰值由光声腔内三维声场的共振效应造成的． ２．２不同光声腔长下的硅粉扫频光声检测 为验明图３的光声信号幅值－频率曲线共振峰的影响因素，取同一粒度的硅粉进行不同光声腔长下的扫频光声检测实验．实验过程和实验参量与２．１基本相同，不同的是：将－２００～＋２８０目硅粉盛于一倒置塑料小瓶盖中，但瓶盖在光声盒中的搁置高度不同．瓶盖搁置高度越高，离窗口玻璃越近，光声腔长越短．利用不同高度的纸筒托起瓶盖就能改变光声腔长．图４给出了３种光声腔长下同一粒度硅粉的光声信号幅值随激光调制频率的变化，其中的实线、虚线、点线分别对应长（硅粉直接盛于下堵头内）、中（硅粉高度在三通接头中间）、短（硅粉高度达到三通接头水平孔上端）３种光声腔长．图中各条曲线均出现一系列共振峰，但共振峰的位置不再相同，因为光声腔的边界条件改变了．２．３在非共振频率区和共振