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第一章 系统概述
1.1 系统概述
半导体芯片测试系统是使用我公司自主研发的ZWL-900测试主机、快速光谱分析仪、高精度直流电源、高稳定交流电源、数显功率计等高精度仪器,配合人性化的上位机软件,对HID、节能灯、LED模块等灯具测试光、色、电综合性能的产品。
系统实现了真正传统仪器技术和虚拟仪器技术的完美结合,既可直接通过仪表的大屏幕液晶进行一系列测试,又可工作在计算机模式下进行各种测试并进行数据图形分析、存储及报表打印。另外,由于系统中的快速光谱分析模块采用了光纤传输导光、CCD快速采集、高速数据转换系统、VC++计算机高效人机交换界面等一系列高新技术计量标准,保证了对在 5ms~800ms内光谱功率分布图、半宽度、主波长、色品坐标等所有光谱参数的测量。
系统的模块化和高集成度保证了系统的高可靠性,低温漂保证了系统的重复性。同时,系统具有强大的电源功能,最大输出恒流可达5A。
便利的实验特性
清晰的大屏幕液晶显示器
快捷式的中英文操作按键
采用先进的四线制测量,使得测量数据更加准确
使用先进的校准算法,能够提供测量性能强大的曲线分析功能
连续性和一致性的测试功能
使用高精度、高稳定性的电源
灵活的系统特性
RS232标准接口
配有功能强大的软件,系统升级灵活
性能扩展方便
开放式的测试性能、齐全的测试支架可满足不同用户的各种测试需求
1.2 技术环境
操作系统:Windows XP
处理器:为INTEL兼容处理器,主频1GHz以上。
系统内存:128M以上。
光谱分析,至少具备两个可用串口。
可适配打印机,进行报表打印。
半导体芯片测试系统主机及装置。
1.3产品特性
快速、稳定
系统使用独立高精度恒流电源模块,拥有先进的快速光谱分析模块。采用等一系列高新技术计量标准,通过信号快速采集、导光、高速分析、高效计算,保证ms级的测试速度和可见光波段的光谱参数测试结果的一致性。
适用性广
开放式的测试、齐全的测试夹具,利于各种规格灯具测试。
简便的使用操作
人机交互界面友善,操作简捷,实现全程软件控制。
直观、完善的测试分析系统
可系统性的完成光色电参数的高精度测试,并通过测试界面将测试结果以图形的方式直观的呈现出来。
所有测试条件符合CIE相关标准。
1.4 技术参数
功能 参数范围 精度 分辨率 电参数 正向电压测量 1.0000V~45.000V ≤5V:±0.2%键值 +0.01 V
>5V:±0.2%键值 0.015V 驱动电流 0-5A ≤300 mA:±0.2%键值+0.001A
>300 mA:±0.2%键值 1.5A,分辨率0.001A
≥1.5A,分辨率0.003A 光参数 光通量测量 0-4000.00lm 3%f.s. 0.001lm 色参数 波长范围 380-780nm
(可扩展测紫外、近红外) <600nm 0.4nm
>600nm 1.0nm 0.19nm 显色指数 0-100 1 1 色品坐标 X、Y和U、V 0.003 0.0001 色温 1300-25000k 0.05%f.s 1K 1.5工作环境
环境温度:23℃±5℃;
相对湿度:55%±25;
电源电压:220V±11V;
电源频率:50~60HZ;
空间环境:无强烈的机械振动、冲击、强电磁场。
第二章 系统介绍
2.1 软件启动
图2-1 系统快捷方式
双击打开“半导体芯片测试系统”,即可启动软件。无需输入权限验证,系统启动后主界面如下图2-2所示:
图2-2 系统主界面
软件开启前应该确保主机已经正确连接。点击重启系统初始化检测,检测过程会自动进行,如果发现问题,系统会提示出错,用户根据提示进行相应操作后,再点击重启系统初始化检测,再次检测系统。第3、4点需用户勾选确认对话框,来通过检测。检测通过后,系统会自动关闭系统初始化界面并进入操作界面。
2.2基本曲线测试简介
基本曲线部分可进行:电流-电压、电流-光强、电流-光通量 的测试,这些不同的测试内容具有一致的操作流程,人性化的操作界面。通过参数的设置可进行快速简单测试和高精度的实验室测试,满足各类用户的测试需求。
2.2.1操作流程
在进行所有方式的测试操作前,用户必须先进行硬件系统和串口的连接。测试流程如图2-3所示:
图2-3 系统流程
2.2.2 测试设置
在主界面中点选基本曲线,此时所有菜单、快捷按钮都对应到基本曲线的操作。然后在在菜单中点击 设置—测试设置,或直接点击快捷按钮的“测试设置”,即可打开基本曲线的测试设置界面。操作过程如下图2-4所示:
图2-4 基本曲线测试设置
完成所有参数设置后,点击“确认设置”,即完成测试设置,设置的参数值显示到基本曲线的显示界面上。(关于参数名的定义、参数允许的输入范
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