X射线衍射方法的应用.pptVIP

第四章 X射线衍射方法的应用 X射线衍射揭示了晶体材料的晶胞类型、大小和原子种类与排列规律。因此，可以用来分析晶体结构特征，进行物相分析，测定单晶取向以及多晶体“织构”，可以精确测定晶格常数，可以表征材料中的应力状态。 点阵常数的测定 4.1 点阵常数的精确测定 点阵常数是晶体材料的基本结构参数，随化学成分和外界条件（T、P）改变而变化。点阵常数的测定在研究固态相变、确定固溶体类型、测定固溶度曲线和热膨胀系数等方面都有应用。点阵常数变化的数量级很小，约为10-5nm，因此，需要精确测定。 点阵常数的测定 4.1.1 点阵常数的测定 ⒈ 原理 通过测定某一衍射线对应的θ角，然后通过晶面间距公式、布拉格方程计算得到相应点阵常数，是一种间接方法。以立方系为例： 代入布拉格方程，得 式中，λ为入射线波长，精确测定后有效数字达到7位，H、K、L是整数，对a值产生影响的只有sinθ，即θ的测量。 点阵常数的精确测定 由图可以看出，当θ比较小时，若存在一Δθ的测量误差，对应的Δsin θ误差范围很大；当θ较大时同样的测量误差Δθ对应的Δsin θ范围减小；当θ接近90°时，Δsinθ范围趋近于零。 点阵常数的测定 对布拉格方程进行微分，得 点阵常数的相对误差Δa /a取决于cotθ和测量误差Δθ。 点阵常数的测定 点阵常数的测定 对于德拜法，通过误差分析发现，Δd /d=