红外扫描型目标探测理论与仿真分析.pdfVIP

第 46卷 R垣 -~ 单-制造与研发 文章编码:1672-3872(2015)02-0031-09 红外扫描型目标探测理论与仿真分析 杨俊军 (西安理工大学，陕西西安 71仪48 ) 摘 要:文章分析了红外成像系统的成像方式以及脉冲制式激光主动探测系统的探测房、理;然后，依据它们的工作 原理，建立了激光主动探测系统对红外扫描型成像系统的探测模型，并通过探测模型分析7 目标探测结果存在不确定 性的影响因素;最后 ，通过对红外扫描型成像系统的探测特性进行仿真实验.从定性的角度 刻画了目标扫描频率与目 标探测直在易程度之间的关系。 关键词:红外扫描;目标探测;理论分析 中国分类号:TP274 文献标识码:A 近年来，随着科学技术的进步与发展，红外扫描 技术广泛应用于各个领域。 然而在激光主动探测中， 红外扫描型成像系统作为被探测的目标，探测结果具 有不确定性:由于目标的扫描线阵在工作过程中位置 并不固定在焦平面处，而是不断变化，因此其后向反 射特性并非一直存在。为深入分析目标探测结果存 在不确定性的根本原因，笔者对此作出如下分析与探 讨。 1 红外扫描型成像系统成像方式 1.1 扫描成像方式简介 目前主流红外探测器的扫描成像方式大致可分 为三类(1)。 1.1.1 串联扫描成像 垂重组饱键 m 徨 测 器 固 1 串联妇缩成像示意图 如图 1 所示，串联扫描成像方式按扫描方向排列 线阵检测单元来进行水平和垂直方向的扫描，各检测 单元的输出信号由元件的间隔和扫描速度共同决定， 探测器的输出信号则由各检测单元的输出信号叠加 而成。扫描方法为利用多面体旋转扫描镜在水平方向 上进行快速扫描和利用垂直扫描镜进行垂直方向慢 速扫描。 若再利用所谓时间延迟积分(TDI)技术则可 以补偿由于高速扫描而引起的灵敏度下降问题。串联 扫描的优点是即便探测元件灵敏度有误差，图像也有 比较好的均匀性。 1.1.2 并联扫描成像 如图 2所示，并联扫描成像方式相对于扫描方向 排列成扫描线阵，线阵各行的检测单元分担每行的扫 描区。 这种方式的线阵元件数量多，不必对垂直方向 进行扫描，因此相对于串联扫描方式具有扫描速度 快、扫描结构简单等优点。 目前 ，在民用方面，多采用 多面体旋转扫描镜或鼓式扫描镜进行水平方向扫描， 扫描线阵约 10 个元件左右;军用方面，多采用平面镜 进行扇面扫描，扫描线阵约 240 至 9∞个元件不等。 并联扫描的缺点是每个元件都需要独立的放大器，成 像质量与各元件的性能相关。 幡 响 幢 泪 归 口 · · · 平 小 图 2 并联扫缩成像示窟图 1.1.3 串并联扫描方式 如图 3 所示，串并联扫描方式综合了串联扫描中 时滞与积分改善性噪比的优点和并联扫描中扫描速 度快的优点。 在目前串并联扫描方式中，以扫描型 CCD 成像方式最为典型:如图 2.3 所示.用 2 至 16 列 线阵 CCD，在各列之间进行时间延迟积分。 在图像垂 作者简介:杨俊军(1978-) .穷，陕西宝鸡人，讲师，研究方向:电子工程与光电技术。 2阳年第 2 期· 岛会，t 4良团 第 46 卷 E画固·EZ-Ea-E噩噩. 制造与研发 直方向用线阵 CCD .信号由 CCD读出，各列元件的信 式 2 中 .D为目标到红外成像系统的距离。 对于 号进行时间延迟积分后重叠在最后的 CCD 列上。 A ，xB， 的视场，设红外成像系统的扫描周期为凡，扫 CCD 列伴有机械扫描，故称为扫描型 CCD。目前，欧 描效率为 η，一个探测单元的扫描时间为飞 .n 为线列 美发达国家投入实用的扫描型 CCD 已经达到 960x4 每一行的并行扫描元探测单元数，则我们可得到飞关 元，对 ι12μm 波段的红外成像具有很高的水平。 系式如下: 水平伊结镜 图 3 $并联扫描成像示意图 1.2 红外扫描型成像系统参鼓 在红外扫描型成像系统中，最重要的两个参数是 扫描周期和探测单元的扫描时间(驻留时间)。由于红 外扫描型成像系统的帧频不容易改变，其扫描周期一 般为常数，故我们关心的是扫描时间与驻留时间之间 的关系，这需要求出驻留时间的表达式。 下面以并联 扫描为例说明探测单元扫描时间的求解过程。 远镜 ---. 飞飞、 圄 4 红外光学扫描吉普组成示意图 如图 4所示，设红外探测器的光敏面为矩形，尺 寸为 αxb?光学系统物空间线视场尺寸为 AxB。于是， 探测器的角度尺寸(光敏面瞬时视场)为 r - n .e. βη.Tru S AJ .BJ (3) 式 3 中，毛为表征红外扫描型成像系统扫描特性 的重要参数，称为驻留时间，其值一般为数微秒左右。 通过查阅相关资料可知，一般情况下，驻留时间在目 标线列 CCD 扫描周期内的占空比低于 1%。当瞬时视 场的扫描速度不变时，驻