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半导体集成运算放大器测试方法基本原理 ——培训课程系列一 测试方法基本原理是依据中华人民共和国标准GB 3442-86 讲授内容： 1、总的要求 2、参数测试 输入失调电压VIO 输入失调电流IIO 输入偏置电流IIB 静态功耗PD 开环电压增益AVD 共模抑制比K CMR 电源电压抑制比KSVR 开环差模输入电阻RID 开环输出电阻ROS 输出峰-峰电压VOPP 最大共模输入电压VICM 最大差模输入电压VIDM 最大输出电流I OM 输出短路电流I OS 通道分离度CSR 等效输入噪声电压VN 开环带宽fBW 全功率带宽fBWP 〈返回〉 总的要求： 无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定； 测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定； 测试期间，施于被测器件的电源的内阻在讯号频率下应基本为零；电源电压的偏差应在规定值的正负1%以内。 在被测器件线性工作区测试时，交流小讯号幅度的逐渐减少，不应引起参数值的变化。 被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。 若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源。 测试期间，被测器件应连接器件详细规范规定的辅助电路和补偿网络。 测试期间，被测器件应避免出现自激现象。 若电参数值是由几步测试的结果经计算而确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短。 采用辅助放大器（A）与被测器件（DUT）构成闭合环路的方法测试时，基本测试原理图如图一所示。 辅助放大器应满足下列要求： A、开环增益大于60dB； B、输入失调电流和输入偏置电流应很小； C、动态范围足够大。 环路元件满足下列要求： A、满足下列表达式 RI . IIB《VIO ； R《 RID ； R . IIB 《 VIO ； ROS 《 RF 《 RID ； R1=R2 ； RL 《 R1 。 其中，IIB 是被测器件的输入偏置电流； VIO是被测器件的输入失调电压； RID是被测器件的开环差模输入电阻； ROS是辅助放大器的开环输出电阻。 B、RF/RI值决定了测试精度，但须保证辅助放大器在线性区工作。 〈 返回 〉 输入失调电压VIO 定义： 使输出电压为零（或规定值）时，两输入端间所加的直流补偿电压。 测试原理图 测试程序 a、在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。 b、电源端施加规定的电压。 c、开关K4置“地”（或规定的参考电压）。 d、在辅助放大器A的输出端测得电压VLO。 由下式计算求出VIO： VIO=RI/（RI+RF）. VLO 注意事项 RI、RF应满足下列要求： IIO . [RI . RF/(RI+RF)] 《 VIO； RF . VIOVOPP 。 其中，IIO是被测器件的输入失调电流； VOPP是辅助放大器的输出峰-峰电压。 RI和RF的精度决定了测试精度。 （返回） 输入失调电流IIO 定义： 使输出电压为零（或规定值）时，流入两输入端的电流之差。 测试原理图 测试程序 a、在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。 b、电源端施加规定的电压。 c、开关K4置“地”（或规定的参考电压）。 d、开关K1，K2闭合，在辅助放大器A的输出端测得电压VL0。 e、开关K1，K2断开，在辅助放大器A的输出端测得