再发射技术测量SGⅡ黑腔靶早期对称性.pdfVIP

第25卷第2期 2013年2月 强 激 光 与 粒 子 束 HIGH POWER LASER AND PARTICI。E BEAMS V01．25，NO．2 Feb．。2013 文章编号：1001—4322(2013)02—0385—04 再发射技术测量SG II黑腔靶早期对称性。 陈伯伦， 蒋 炜， 景龙飞， 袁 铮， 黎 航， 余 波， 蒲昱东， 苏 明， 晏 骥， 黄天匝， 江少恩， 刘慎业， 杨家敏， 丁永坤 (中国工程物理研究院激光聚变研究中心，四川绵阳621900) 摘 要： 利用再发射技术能够有效测量早期辐射驱动对称性。2011年在神光Ⅱ激光装置上，采用Bi替 代靶，通过改变靶丸的支撑方式和优化探测器配置，利用分幅相机获得较高信噪比的Bi球表面再发射图像。 利用实验结果获得了入射流不对称性P：分量随时间的变化，对比两种腔长的黑腔，P：分量随时间的变化存在 明显差别。两种腔P。分量随时间的变化趋势与采用视角因子模拟的结果基本一致。 关键词：再发射；早期不对称性；Pz分量；Bi替代靶 中图分类号：TN244 文献标志码： A doi：10．3788／HPLP0385 采用间接驱动中心点火的方式实现惯性约束聚变，要求在整个过程中对内爆靶丸进行对称性压缩，实现球 形内爆。理解和控制间接驱动内爆过程中的对称性是提高收缩比、获得高增益内爆的关键。利用整形脉冲实 现对靶丸的准等熵压缩过程中，前2 ns的早期辐射驱动对称性不仅会影响后期热斑的对称性，还会影响冲击 波在燃料中的传播，因此尤为重要。采用高Z元素的替代靶，利用高Z元素的再发射X射线图像可以反映入 射流的不对称性[1≈]，是诊断早期辐射驱动对称性的重要手段。此外，由于早期腔内环境变化较小，可以采取有 效的近似，简化复杂的物理过程，更好与理论模拟进行对比。2011年在SG lI激光装置上，利用再发射技术对 黑腔靶的早期辐射驱动对称性进行诊断。采用改进的靶设计方式，获得了信噪比足够高的高Z元素X射线再 发射图像，演示了不同腔设计下早期辐射驱动对称性随时间的变化。这种技术将在今后SGIll装置黑腔靶对称 性的调控中获得广泛应用。 1实验原理和设计 间接驱动内爆过程中，靶丸受到辐射驱动的对称性是一个重要的物理量。辐射驱动对称性差，会影响内爆 压缩过程，抑制最大压缩密度和中子产额。利用具有时间、空间分辨能力的成像诊断设备，可以直接测量高Z 元素铋(Bi)的替代靶球再发射X射线图像，获得时间依赖的辐射驱动不对称性。在黑腔中心，采用高Z元素 替代靶代替内爆靶丸，对驱动对称性进行时间采样。在黑腔辐射流的影响下，替代球表面通过热辐射再发射X 射线，再发射的辐射流强度和入射流直接相关。 记录早期瞬时的辐射驱动对称性，选择非内爆的Bi替代球代替内爆靶丸，采用分幅相机获得不同时刻Bi 球表面再发射软X射线图像。早期Bi球表面每个点被局域的辐射加热，局部的再发射流可以成为此处入射流 的一个度量标准。选择Bi球主要考虑Bi元素的原子序数比Au高，可以降低荧光的影响。通过诊断孔对Bi 球边缘再发射进行成像，可以获得瞬时的入射流强度信息。随着Bi的不断被烧蚀，边缘逐渐抹平，精度会逐渐 降低；此外，随着腔内等离子体的喷起，与被烧蚀的Bi产生碰撞导致发光，这种发光机制不能表征入射流的不 对称性，因此这种方法只适合早期辐射驱动对称性的诊断。将Bi球的再发射能谱近似为Planckian谱¨j，那么 可以简单推导出，”％的入射流的不对称性，会导致再发射流的不对称性为起(hv／4kT，。)％，其中，了、，。一a，。1朋T。， ‰是Bi的反照率。提高观测的再发射光子的能量，可以提高测量入射流不对称性的精度，但实际上由于再发 射流通量随光子能量增加而呈指数下降，因此需要在观测再发射光子的能量和强度之间进行优化。选取合适 的滤片配合Planckian谱的高能截断，可以对观测的再发射X射线的能区进行选择。再发射X射线能谱和辐 射温度直接相关 *收稿日期：2012-04—11； 修订日期：2012-05—31 基金项目：国家高技术发展计划项目 作者简介：陈伯伦(1979一)，男，博士，副研究员，从事x射线诊断技术研究；blchen@mail．ustc．edu．crl。 万方数据 386 强 激 光 与 粒 子 束 第25卷 砒，T)一学面而bi (1) 式中：甜是再发射谱的功率密度；矗u是再发射光子能量；T是辐射温度；C为真空光速；是为玻尔兹曼常数。图1 给出不同辐射温度下Bi球的再发射能谱，以及辐射温度为160 eV时，分别采用20，50，100 F rn的Be滤片时的 选通能区。 珧V T／eV (a)re—emitted flux ofBi at different (b)re-emitted f