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功能粉体材料制备-3
X-optical electron spectrum 测定原理 将样品表面用X射线照射后,原子的内层电子被激发,从样品表层释放光电子。通过测定被释放出的光电子运动能,可以鉴定试验材料表面所存在的元素,分析其化学合成情况。 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 粉体材料性能表征 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 粉末晶体结构(微结构及缺陷) 化学组成 颗粒形状 粉末粒度及其分布 比表面积 表面电性和表面能 在不同体系下的分散性 粉体材料性能表征的主要内容 决定了粉体的力学、物理和化学特性 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. X射线衍射(XRD) 电子衍射(ED) 常用粉末晶体结构性能表征 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 确定粉末的晶体结构,晶态或非晶态 确定粉末的结晶度 确定粉末的化学组成(含量在2%以上) 确定显露晶面,计算晶胞参数,判断晶体结构缺陷 估算粉末晶粒大小 X射线衍射(XRD) Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 估算粉末晶粒大小 X射线衍射(XRD) 根据谢乐公式: 式中:λ为X射线衍射线的波长;d为晶粒大小;B为衍射线半高宽。B表示单纯因晶粒度细化引起的宽化度。θ需选取低角度X射线衍射线(2θ≤50°)进行计算。B值在计算时,需从测量的半高宽BM中扣除仪器宽化的影响。 * X射线衍射线宽法测得的是晶粒度,这与颗粒度意义是有区别的. Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 一般X射线衍射图谱提供的数据 分析条件 K?现象 Bragg方程 2dsinθ=nλ Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. X-Ray diffraction 某粉末的X射线衍射图 衍射角 晶面符号 峰的强度 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 电子衍射(EDS) 确定晶态、非晶或多晶 确定晶面,计算晶面间距 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. Electron Microscope Analyzer 非晶粉末电子衍射照片 结晶度低的粉末电子衍射照片 结晶度好的粉末电子衍射照片 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd
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