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《电气应用》2005年第24卷第9期 射频识别系统的应答器测试线圈和 阅读器天线设计与实现 张 华1 吴 欣1 (1．广东技术师范学院自动化系 510635 吴 敏2 曹卫华2 2．中南大学信息科学与工程学院410083) 摘 要 首先介绍射频识别系统应用中模拟应答器测试线圈、阅读器天线的设计方法，该方 法通过测量测试线圈电压的变化来反映阅读器的磁场强度变化的作用效果，然后对阅读器天线半 径和作用距离作了定性分析。 关键词 射频识别系统 模拟应答器测试线圈 阅读器天线 1 引言 射频识别系统设计中重要的性能是为无源应答 器(Ic卡)提供能量传输和信息传输通道，这些 能量是由阅读器中的天线产生的。在特定的系统工 作频率下，天线的设计决定了射频识别系统对应答 器的作用距离。因此，为了获得较好的读写性能， 需要对应答器的特性和阅读器天线设计进行研究。 本文讨论一种模拟应答器的测试线圈，它的电 气参数和机械参数与“真正”的应答器相符合，从 而为阅读器的天线设计提供了一种可观测和可控制 的模型。 2应答器测试线圈设计 通常大多数的射频识别系统是按电感耦合的原 理工作的，在阅读器与应答器之间的能量和数据传 输过程中，磁现象的物理本质是重点关注的现象。 按照磁场理论，两个电路经过磁场产生的耦合是电 感耦合射频识别系统的物理基础。在阅读器和应答 器组成的射频识别系统中，互感系数是两个导体回 路的磁通量耦合的定量说明，由于应答器线圈只有 一小部分被阅读器天线的磁场通过，因此引入耦合 系数后对导体回路的耦合定性分析。耦合系数k 和与此有关的互感M，自感L，和L2是设计电感 耦合射频识别系统的最重要的参数u J。 射频识别系统设计中，磁场强度是阅读器作用 到应答器工作范围的一个重要指标，由于磁场强度 测量较为困难，且不能直接反映出应答器对磁场强 度变化所带来的作用效果，因此，模拟应答器的测 试线圈的目的之一就是用测试线圈电压的变化来反 映阅读器的作用效果，使得天线设计更直观且更便 于调试。 对应于Temic公司的应答器(e5550／5560以 塑料外壳封装)为例，设计的模拟应答器参数为： 用声0．05mm漆包线在庐1mm磁心上绕120匝制作 成测试线圈(Test coil)，阅读器天线线圈用 声O．1mm漆包线绕制，直径从5cm到15cm、匝数 从20到80不等的多组试样天线。 图1 应答器测试线圈测量电路 对应于图1中的阅读器线圈和应答器线圈测量 的电压u R、u，和电感参数L R、￡T，可以计算 出电路的耦合系数 r，厂7一 ¨”谠。√瓮 (1) 式中，u，为应答器线圈上的电压；U。为阅读器 线圈上的电压；L T、￡R为线圈的电感；A K为校 正因数，A K与测量电路和测试应答器线圈中的寄 生电容有关，对应于低电容布线的测量电路A。= 0．8～0．99。 通过测量阅读器和模拟应答器的测试线圈的电 压UR和U，，可以计算出耦合系数k。 两个平行的、在轴向上同芯的导体回路的耦合 系数可按式(2)近似估算(约束条件rTrR) ——-——49．--—— 万方数据 《电气应用》2005年第24卷第9期 射频识别系统的应答器测试线圈和阅读器天线设计与实现 地卜万寻R镛 ㈤√7T‘r 。＼√省‘+r备J 式中，r T、rR为应答器和阅读器天线线圈的半 径[2|。 当导体回路之间的距离为零(戈=0)，天线半 径r相等(r，=rR)时，耦合系数k(茗)=1， 实际射频识别系统设计中，由于天线半径r的不 同和距离或磁屏蔽可导致完全去耦使k=0。 综合以上两式，得到U，的近似计算公式吣钆万褊压‰ (3) 3阅读器天线设计 设计天线的原则之一是尽可能地增大磁耦合， 较好的耦合增强了阅读器天线到应答器的能量传 输，同时也增加了应答器送回阅读器天线信息的信 号强度。 结合以上设计的应答器测试线圈，对于圆形、 正方形和长方形绕制的天线，可得到图2所示的实 验曲线(以圆形天线为例)。 5 3 l O 5 喜n· O-05 0 0l 0001 O k RfSmm 1I 1 1I Rl=60mm 1＼＼ 、～ ＼’～＼ 、-＼ ＼’ 、． 0．01 0．1 1 10 X／nun 图2天线线圈回路沿茗轴方向测试线圈电压曲线 按图1的测试电路和由U，计算公式，可以获 得距离为0—10mm的三种不同天线计算得到的 u，曲线(图2)，分别对应于天线线圈半径不同： R1=60mm；R2=8mm；R3。2mm。 实验和计算结果证实：当天线线圈匝数和天线 电流均保持不变时(这通常是由芯片驱动确定的)， 在与天线线圈距离很小(算R)的情况下，场强 的上升是平缓的，较小的天线在其中心(距离为 0)处呈现较高的输出电压，而较大的天线在较远 的距离(髫R)处场强明显较高旧J。 一5D一 ＼ 最佳天线