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- 2017-04-06 发布于北京
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第4章节材料剖析方法
第一章 X射线物理学基础 第二章 X射线衍射方向 第三章 X射线衍射强度 第四章 多晶体分析方法 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 第六章 宏观残余应力的测定 第七章 多晶体织构的测定 第四章 多晶体分析方法 本章主要内容 第一节 德拜-谢乐法 第二节 其他照相法简介 第三节 X射线衍射仪 第一节 德拜-谢乐法 二、德拜相的摄照 (一) 相机、底片安装及试样 德拜相机如图4-2所示,X射 线从光栏的中心进入,照射圆柱 试样后再进入承光管。 第一节 德拜-谢乐法 二、德拜相的摄照 (一) 相机、底片安装及试样 相机为圆筒形暗盒,直径一般为 57.3mm或114.6mm; 试样长约10mm、直径为0.2~1.0mm, 在曝光过程中,试样以相机轴为轴转 动,以增加参与衍射 晶粒数; 底片围装在相机壳内腔,安装方法有3种,见图4-3 1) 正装法 ;2)反装法;3)偏装法 第一节 德拜-谢乐法 二、德拜相的摄照 (一) 相机、底片安装及试样 1) 正装法 X 射线从底片接口射入,从中心孔射出,几何关系 及计算简单,用于一般物相分析
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