共焦扫描系统扫描深度与厚度失真分析.pdfVIP

第 36 卷第 10 期 2007 年 10 月 光子学报 Vol. 36 No.10 October 2007 ACT A PIIOTONICA SINICA 一 共焦扫描系统扫描深度与厚度失真分析铃 周增会，王枚奖，徐至展 (中国科学院上海光学精密机械研究所强场擞光物理图家重点实验室，上海 2口 1800) 摘 要:采用儿何光学方法对共焦品统扫描时产生的扫描深度与海底失真进行了理论分析，对名义 扫描深成与实际扫描深底之间的关品进行了研究，以主辛外明 6G f事 A慧与戒片组成的多层样品为模 珑，对其进行了模拟计算，得刘了扫描深l竟与阜成失...与单纯钦佩孔径、折射率和样品碎成之间的 关单.在实革岳阳k分别采用单光子荣允和成光子荧光作为检测信号，在Ei...射式共焦扫描革统上进行了 纵向?J苗实验.并与模拟计算的结果进行了比较和分析 关键诩:共焦扫描j!.低水;扫描 3草皮失真，~Jt扶正;双光于共焦j{概非主 中国分类号 ， 0439 11:.麟标识码，A 文第编号， 1004-4213(2007)10-1909-5 。召|言: 共f摇身在做才过自问世f以来川41 ，因其具有高空间分 辨率和;三维蹊析功能而受到j广泛应用，在处物组织 xi措检测等方周具有独特的优势[H] 在实际应用 中，人们主要是利用共能系统的陈析能力得到样品 的络构、光谱、德度和压力等参徽的三维分布信息. 在E采用非没?l:物镜进行纵向Ji!析时.系统名义拘饰 吉普~与焦点实际泳庶的误绥对测躁的准确性有很大 的影响. Everall 等[NIJ 耐究了对樱娥结构激行共焦 扫描E骂街时样品路度丰~位置史的失真现象，并与采用 f毫没物饿i进行扫馈的情况进行了比较 Xiaol3] 等对 薄m聚合物均皮肤样品占世行了共然扫描，发现扫描 深度失真对测量给身电影响很大. Reineckell 奇事研究 了样品折射率变化对聚合物掰膜共然柯揣摩析的影 响，绘出了在特定条件F扫描深度失奥的校?阁子. 这也研究表明，为丁得到j准确的探测信息，前需主耳对共 焦系统纵向扫描迸行全翩而详细的分析.本文在 Everalll叫的研究慕础上，采用几何光学方法对共焦 扫描系统的扫描深度匀厚度失庭主E衍了理论分析均 数值计算，探讨名义扫描深度与实际扫描深度之间 的关系及其对实验的影响.掏建了…个三层结构的 样品，分别采用职光子手n双光子荧光共荒草显微术对其 进行了测量，并与模拟计算结果进行了比较均分析. 1 基本模型 共焦系统的原理直J1 f到1.点光源发出的光聚然 后照射在梓品中，接收光路的小孔将阻挡焦点 B 以 外区域的散射光，从而实现轴向的房析.系统的轴向 网事重点晶础研究蛊展规划 (200ZCB713808)和国靠自然 科学品企贵蜡 Tel s021Ema.íl:zh.zhou@mail. siom.ac 山l 收稿日期，2006- 02- 23 阁 1 共焦显1It草就探测先路 Fig. 1 Scheme of confocal microscopy 极限分辨率为l11J(理想小孔情况刊 2. 2 (1) n(NA) 其中 A 为信号光挂在民 ， n 为物镜所处介质的折射率， NA 为物锐的数傻子L役. iíJ 以辛苦1:111飞与所用彼伏成 IE比.与物锐的数傻子L役$:.比. Tabaksbalt 等[叫 通过模拟 ìt 算和实验验诚得出，夜 100X 物镜 和 100μm的针孔条件下输|臼j 分辨率1iT以达到 2μm. 公式 1 中并斗是考虑拘捕裕殷勤H，的影响，倒 是通过分析可以证明，在采用非没没物镜进行纵向 层析时，在不同的扫描曾在度上轴前1分辨率是不同的， 实际妇锁深度与名义扫描深度之间也存在一定的谈 续.即抖揄深度失巢， IìI 此带来样品厚度的失巢，这 种失真主苦 n ， NA 等参量及扫描深度等参主量都有关 系，下阁将对?i!Hr详细分析. 采阴与样品折射率匹配的折射率油做苦建设介质 时，共焦系统的焦点不会因折射而移动，名义扫描深 度即为实际扫描深度，幸号楼没介质为空气，如图 2 ， 林品折射率为，，(，，1) ，当名义扫描深度为 A 时，各 孔役处的光线由于折射原网，并不能会聚在理想的 焦点处.时魁产生输向扩散.t是理想共焦系统某孔4盖 处的光线则一化半役系数为 m(O;;;m;;; l) ，对应的 半径为凡，光线 m 在样航运提阔的入射角为。;射入 样品点与光输距离为 rr射入样品质与光轴栩交点 离样品上表阁距街为 Zm与克轴的央角为此 .IìI 自目 中几例关系可以得到 Zm皿 rm/tg(Jm (2) 191Q 光子学报 36 卷 因 2 共11罪统光线折射 Fig.2 Schem、。{ heam