光谱校正积分光度法测量蓝光LED光通量.pdfVIP

第 27 卷 　第 5 期 2006 年 5 月 半 　导 　体 　学 　报 C HIN ES E J OU RNAL O F S EMICOND U C TO RS Vol. 27 　No. 5 May ,2006 3 国家高技术研究发展计划专项经费资助项目 (批准号 :2004AA311060)- 通信作者. Email : hainiushen @163 . com 　2005208227 收到 ,2005211201 定稿 Ζ 2006 中国电子学会 光谱校正积分光度法测量蓝光 L ED 光通量 3 潘建根1 　沈海平2 ,- 　冯华君2 (1 杭州远方光电信息有限公司 , 杭州　310053) (2 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室 , 杭州　310027) 摘要 : 介绍了一种光谱校正积分光度法及其在蓝光 L ED 光通量测量中的应用 ,对测量中的各种不确定因素作了 理论分析 ,并与单纯的分光光度法和积分光度法的不确定度作了比较 ,证明该方法可实现极高的测量精度. 这对于 L ED 的品质评价具有重要意义. 关键词 : L ED ; 光度 ; 光通量 ; 测量 ; 不确定度 PACC : 0760D 　　　EEACC : 7320P 中图分类号 : O43212 　　　文献标识码 : A 　　　文章编号 : 025324177 (2006) 0520932205 1 　引言 自从 GaN 材料的发光二极管 (L ED ) [ 1 ] 被发明 以来 ,L ED 在众多领域得到了广泛的应用 ,甚至有 可能成为 21 世纪最有前途的照明光源之一. 因此各 国政府、科技工作者和企事业单位 ,均在 L ED 方面 作了大量部署和投入. L ED 产品的质量不仅要从生 产封装过程中就加以严格控制[ 2 ] ,而且还要对 L ED 成品的发光特性作精确测量. 由于 L ED 的发光机 理与传统光源存在着很大的差别 ,因此其光辐射测 量在很多方面都面临着国际性的难题 ,为此国际照 明委员会 ( CI E) 成立了专门的技术委员会研究这些 问题 ,并已形成了 CI 文件[ 3 ] ,但要建立完 整的 L ED 评价测试体系还有很长的一段路要走. 蓝光 L ED 光度量的精确测量就是众多难题中 的一个. 即使一些实验室级别 ( f′1 115 %) 的光度探 头在测量蓝光 L ED 的光度量时也会产生较大的误 差 ,原因就在于探头的相对光谱灵敏度经常在短波 段与标准光谱光效函数 V (λ) 存在较大偏离 ,这种 偏离对于绿光、红光或白光 L ED 的光度测量影响 较小 ,而对于蓝光 L ED 则影响较大[ 4 ] . 目前国际上 对这一问题的解决方法一般有 : (1) 在蓝光 L ED 的辐射区域 (短波段) 将光度 探头的相对光谱灵敏度与 V (λ) 曲线实现精确匹 配 ,即形成一个专门的蓝光光度探头 ,但其实现难度 和成本非常高. (2)使用精确替代的蓝光 L ED 标准校准源 ,标 准校准源与待测 L ED 为同一类型的 L ED (即相对 光谱功率分布和空间光强分布一致) . 由于 L ED 的 种类繁多 ,因此需要配套很多的 L ED 标准校准源 , 成本也相当高. (3)与上述使用光度探头测量的积分光度法相 对的 ,还有使用光谱仪测量的分光光度法. 这种方法 虽然能解决蓝光 L ED 光谱功率分布特殊性所带来 的光度测量问题 ,精度比用普通光度探头的积分光 度法高 ,但这种方法存在的一个普遍问题就是光谱 仪的光度线性响应范围一般都较窄 ,而且光谱测量 本身也具有不确定度. 本文介绍的光谱校正积分光度法 ,结合了分光 光度法和积分光度法的优点 ,同时解决了两者的缺 陷. 对这种方法在蓝光 L ED 光通量测量中的不确定 度作了理论分析 ,并与单纯的分光光度法和积分光 度法的不确定度作了比较 ,证明了这种方法可实现 极高的测量精度. 2 　系统与方法 光谱校正积分光度法测量蓝光 L ED 的光通量 可采用如图 1 所示的测试系统. 具体步骤为 :光谱分析仪通过光纤导入的方式 测量待测 L ED 的相对光谱功率分布 SL ED (λ) ;通过 光度探头测量待测 L ED 的光通量 not corrected ,计算机 根据这些测量数据以及已知数据 ———校准光度探头 所用的光通量标准灯的相对光谱功率分布 Ss (λ) 、 标准光谱光效函数 V (λ) 以及光度探头的相对光谱 灵敏度 s (λ) rel ,按下式计算光谱校正因子 K : 第 5 期 潘建根等 : 　光谱校正积分光度法测量蓝光 L ED 光通量 图 1 　光谱校正积分光度法的蓝光 L ED 光通量测试系统 Fig. 1 　Measuremen