一种基于结构和可测性分析的BIST部分扫描算法.pdfVIP

第 23 卷第 1 期 2∞5 年 1 月 应用科学学报 JOURNAL OF APPUED SCIENCES Vol. 23 , No. 1 Jan. 2∞5 文2脏编号: 0255-8297(2∞5)01-∞61-06 一种基于结构和可测性分析的 BIST 部分扫描算法 谢永明，李锐，杨军 (东南大学因家专用集成电路系统工程技术研究中心，江苏南京 21酬的 摘 要:提出了)种在内建自测试(BIST) 中进行部分扫描的算法，此算法综合了电路的结构分析和可测性分析.文 中对其原理和实现分别进行了详细的叙述，最后运用此算法对 ISCAS89 benchmark 电路进行计算，修改其结构后进 行故障模拟，并将实验结果与全扫描结构和仅考虑结构的素的部分扫描结构进行了比较，最后得出结论， 关键诩:内建自测试;部分扫描;可测性度评估算法;测试时间 中图分类在寄: TN45 文献栋i只码 :A A Partial Scan Algorithm for BIST B拙ed on Structure Analysis and Testability Analysis XIE Yong-ming , LI Rui , YANG Jun (N.α$切lna/ ASIC 句stem 忘鸣时时吨 Center ， 50耐阳唰 Uni咽阳时 ，N.呵i吨 211以酌 ， Chùw) Abstract: A partial scan algorithm for BIST , which combines the structure analysis and testability analysis , is presented in this paper. The basic principle and implementation of the algorithm are analyzed in detail. 咀le fault simulation experiments on ISCAS89 benchmark circuits by means of this algorithm are made , and the results are compared with the full scan algorithm and the partial scan algorithm based only on the structure analysis. Compared with the full scan algorithm and the partial scan algorithm based only on the structure analysis , our partial scan algorithm can greaùy reduce the test time with very close or even greater faults coverage and mess area than the full scan algorithm. Key words: BIST; partial scan; COP; test time 电路中存储单元的扫描结构是可测性设计中的 一种常见技术[1] 最初来用的扫描结构为全扫描结 构，其优点在于: ?:可以访问到电路中任意的中间状 态，确定性测试向量生成比较简单且其测试向盘较 少，电路的故障覆盖率校商.但也存在着不足:芯片 丽积增加，电路性能降低.随着集成电路规模增大， 复杂庶提商，~扫描铺构的缺点撞得尤为费出.而部 分扫描铺构正是为了解决企扫描中的这些不足被提 出 [2.3J 部分扫描结构可以在保证一定的故障穰盖率 的前提下，减少芯片面积，改善电路性能，但其确定 性的测试向最生成较全扫描结构的复杂，且其测试 收稿日期 :2ω3-10嗣曰: 修订日期 :2∞3-12-08 暴愈顶帽:阁*自然科学基金资助琐阔 (ω17ω18) 向盘较多. 对于确性向盘组成的部分拘捕捕构，其拘捕 姑胸的生成即扫描单元的确定，有很多算法.这些算 法基本出发点大政可分为5种:慕于可测性分 析[4.5];基于结构分析[卜川;慕于 ATG( 自功测试向盘 生成) [12.13) .对于基于可测性分析的拘捕单元的确定 算法，所需要要的计算时间较长，其故障覆盖率依帧于 可测性分析算法的准确性.~在于结构分析的扫描单 元的确定算法，主要考虑到 ATG 遇到的困难常常是 因为存储单元反馈环的影响，所以其主要思想是将 电路中存储单元结构转化为有向阁，然后运用图论 作者简介:谢永明 (1980 …) ，男，江苏南京人，硕士生，E叩1: whynotxie@刷. 62 应用科学学报 23 卷 中算