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精密计量与测试技术ppt制作讲述
表面粗糙度测量新技术
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一.光学探针法
有许多被测件的表面,如光盘、半导体工艺、化学样品等是不允许触针划伤的,另外有一些质地较软的表面,也不可用触针式电动轮廓仪测量。因此,非接触式表面轮廓探测技术受到重视,并得到发展。
一.光学探针法
光学探针:是采用透镜聚焦的微小光点取代金钢石针尖,表面轮廓高度的变化通过检测焦点误差来实现。
目前采用的有:
◆激光三角法探针
◆光学临界角法探针
◆像散法探针 等
1-1 三角法探针原理图
1.激光三角法探针
探测器D是位置敏感探测器(PSD)或电荷耦合器件(CCD),他的输出电压与光斑在探测器上的位置成比例。
S
S’
图(1-4)为采用三角法探针原理的粗糙度探头。位置探测器的输出电流随光点位置的不同而连续变化。
这种系统不仅能测量表面突起,还能测量表面的倾斜(一维)。传感器可达1um的测量精度;测量范围可达毫米量级。
2.临界角法探针
问:在A、B、C三位置投射到光电探测器上的光斑情况如何?
是根据光的全反射原理做成的探针。
探头垂直方向的分辨率1nm,该类型的传感器可用于工艺过程监测、机床上的在线测量。
采用两路接收的目的是什么?
运算的两个目的:
◆避免物镜倾斜对测量结果的影响;
◆用总光强进行规一化处理,可消除光源的波动,也可消除物面反射率不同带来的影响。
像散
如果光学系统只存在像散,则子午光束和弧矢光束均分别交于主光线上的同一点。两交点的位置不重合,光束结构如图所示。整个光束形成两条焦线,分别称为“子午焦线”和“弧矢焦线”。
当像平面在子午焦线位置时,得到一条水平焦线,在弧矢焦线位置时,得到一条垂直焦线。在两焦线中间得到的弥散图形如下右图所示。
3.像散法探针
二.外差干涉式轮廓测量
x
h
fo
f2
fo-f2
f1
fo-f1
E1+E2
E1+E2
该系统在垂直方向分辨率优于1nm。
三 .激光光斑法
◆如图所示,由激光照射所得的图谱,随工件表面的光洁度的增高,其反射光斑的光强也愈强,而散射光带的光强则愈弱。对于不同的工件表面,其反射特性虽有区别,但同一散射角内的总能量不变。
平滑
粗糙
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