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数字电子技术实验 实验一 门电路  一、实验目的 1、熟悉TTL芯片的引脚排列，了解主要参数的测试方法； ２、掌握基本门电路逻辑功能的测试方法。 二、实验原理 　　　　TTL集成与非门是数字电路中广泛使用的一种基本逻辑门。使用时，必须对它的逻辑功能、主要参数和特性曲线进行测试，以确定其性能的好坏。与非门逻辑功能测试的基本方法是按真值表逐项进行。但有时按真值表测试显得有些多余。根椐与非门的逻辑功能可知．当输入端全为高电平时，输出是低电平；当有一个或几个输入端为低电平时，输出为高电平。 三、实验内容 (一)、测与非门的逻辑功能 1、选择双4输入与非门74LS20，按图1.1接线； 2、输入端、输出端分别接LG电平开关、LG电平显示LED指示灯元件盒上；集成块及逻辑电平开关、逻辑电平显示元件盒接上同一路5V电源。 3、拨动电平开关，按表1.1中情况分别测出输出电平。  (二)、测试与或非门的逻辑功能  (三)、测逻辑电路的逻辑关系  (四)、观察与非门对脉冲的控制作用 四、实验注意事项 l、接拆线都要在断开电源(5V)的情况下进行。 2、TTL电路电源电压Vcc = +5V； 3、注意Vcc及地的接线不能接错(不能接反且不能短接)，待仔细检查后方可通电进行实验。 五、 实验仪器与设备 JD-2000通用电学实验台