芯片延迟测试讲述.pptx

芯片延迟测试 报告人：陈思 导师：余国义 主要内容 芯片延迟测试的重要性 芯片延迟测试的目的 芯片延迟的故障模型 芯片延迟的测试方法 芯片延迟测试施加方法 芯片延迟测试的重要性：电路速度越来越高；缺陷数目随着特征尺寸不断下降而剧增，延迟超出给定设计时间范围的几率就增大 芯片延迟测试的目的 验证被测电路在给定的电压和温度范围内的时间信息 确认被测电路符合设计规格 芯片延迟的故障模型 门延迟故障 路径延迟故障 门传输延迟故障 互连传播延迟故障 惯性延迟故障 最大最小延迟故障 门延迟故障模型GDF：该模型假定逻辑门的延迟是从门的输入端到输出端的，门的上升延迟时间和下降延迟时间可以不同，延迟可以从不同的门输入到不同的门输出，且假定互连延迟已累积到门延迟内。门故障模型是假定延迟故障源于有故障的门，可分为转换故障和小门延迟故障（沿最长的延迟路径作的测试，工业界应用很少）。 转换故障TF 假定门延迟聚于门的输入输出端（也称门端聚集延迟故障），分为上升延迟故障STR和下降延迟故障STL，分别描述门对上升和下降信号的延