手机可靠性测试标准.docVIP

可靠性测试标准 1、 目的 此可靠性测试标准的目的是尽可能的挖掘设计、制造过程中潜在的问题，在正式投产之前找到改善的方法并解决上述问题点，为正式生产在产品质量上作必要的保证；并检测产品是否具备设计上的成熟性，使用上的可靠性。具体包括新产品的实验，物料的实验以及例行抽检实验等。 2、 适用范围 此标准只适合辉烨通讯技术有限公司生产的移动通讯产品。 3、 可靠性测试项目及方法 3.1 高温储存试验 试验目的：检验产品在高温环境条件下存储的适应性。 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，不插SIM卡关机状态以正常位置放进试验箱内。使试验箱在30分钟内温度达到70±2℃，温度稳定后持续48小时。持续期满后将试验样机在正常大气条件下放置2小时，之后对试验样机进行试验后检查。 判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。 3.2 低温储存试验 试验目的：检验产品在低温环境条件下存储的适应性。 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机（需包装）带电池及电池后盖，不插SIM卡关机状态以正常位置放进试验箱内。使试验箱在30分钟内温度达到-20±3℃，温度稳定后持续48小时。持续期满后将试验样机在正常大气条件下放置2小时，之后对试验样机进行试验后检查。 判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。 3.3 高温工作试验 试验目的：检验产品在高温环境条件下使用的适应性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上SIM卡及T卡，处于待机状态（滑/翻盖处于打开状态），以正常位置放进试验箱内。使试验箱在30分钟内温度达到55±2℃，温度稳定后持续8小时。持续期满后立即对测试样机进行试验后检查。 判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。 3.4 低温工作试验 试验目的：检验产品在低温环境条件下使用的适应性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上SIM卡及T卡，处于待机状态（滑/翻盖处于打开状态），以正常位置放进试验箱内。使试验箱在30分钟内温度达到-20±3℃，温度稳定后持续8小时。持续期满后立即对测试样机进行试验后检查。 判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。 3.5 滑盖寿命试验 试验目的：验证机壳材料、FPC、滑轨的寿命以及滑盖组件结构的配合寿命。 试验设备：滑盖寿命测试机 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上SIM卡，处于待机状态；以25~35次/分的速度滑动滑盖，来回为一次；要求滑盖须达到最大活动位置及最小活动位置；每2万次进行外观功能全检。试验总数为10万次（出货为6万次）。 判定标准：滑盖寿命至少10万次；外观和结构正常，未有明显的裂纹/破损；无明显异常响声；允许打开时有阻滞感，打开滑盖后整个滑盖组件可前后左右轻微晃动；必须通过基本功能测试。 3.6 翻盖寿命试验 试验目的：验证机壳材料、FPC、转轴的寿命以及翻盖组件结构的配合寿命。 试验设备：翻盖寿命测试机 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上SIM卡，处于待机状态；以25~35次/分的速度翻动翻盖，来回为一次；要求翻盖须达到最大活动位置；每2万次进行外观功能全检。试验总数为10万次（出货为6万次）。 判定标准：翻盖寿命至少10万次；外观和结构正常，未有明显的裂纹/破损；无明显异常响声；允许打开时有阻滞感，打开翻盖后整个翻盖组件可前后左右轻微晃动；必须通过基本功能测试。 3.7 静电放电抗扰度试验 试验目的：检验产品的抗静电性能 试验设备：静电仪、综测仪 试验样机：2~4PCS 试验内容：1）试验环境为温度15 ~35oC；湿度30~60%RH 2）试验时要求手机处于开机充电通话状态，在正负电压、带与不带充电器、翻/滑盖闭合与滑开几种状态下试验。 3）对于裸露在机身表面的金属部分使用接触放电，其他区域则使用空气放电；每个测试点放电10次为一组，共进行两组。 4）空气放电标准为±8KV；接触放电标准为±4KV。 5）试验完毕检查手机的各项基本功能，并进行电性能检查。 判定标准：样机出现功能暂时性（失效时间大于3秒）或永久性失效（故障不恢复）判为不合格。样机出现闪屏或3秒内可自行恢复之故障判为合格。 样机出现射频对比测试数据异常（接收报告电