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5.7基于JTAG的ARM调试系统.ppt
回顾;第五章 ARM及Xscale体系结构;5.7 基于JTAG的ARM调试系统;1. 传统调试工具遇到的挑战;2. JTAG边界扫描测试接口;3. JTAG边界扫描测试接口结构;4. JTAG接口结构说明;5. Embedded-ICE模块 ;6. ARM内核调试通道;7. ARM实时调试系统组织;8. ARM调试系统特点;9. ARM处理器状态间转换;10. ARM的JTAG仿真器;LPC2210芯片的ARM调试结构;5.8 ARM系统综述;1. ARM系列核命名规则;2. ARM CPU发展路线图;3. Intel Xscale处理器系列;3.1 第一代： StongARM系列处理器 ;3.2 第二代： Xscale系列;3.3 Intel PXA系列;3.4 Intel PXA系列 （2）;3.5 Intel PXA系列 （3）;3.6 Intel PXA系列 （4）;4. ARM系列核概述;3. ARM系列核概述 （续）;小 结;TAP（测试访问端口）管脚;TAP控制器的16状态的有限状态机;指令寄存器;边界扫描指令集;测试数据寄存器组;3. 1 JTAG接口在系统中的连接结构
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