基于难测故障冲突分析的非扫描可测性设计.pdfVIP

段旦!iJ肌旦旦旦5.1 清华à学学报〈自然科学版) 2003 作第 43 卷第 7)\月 CN 11 22231叫 ]丁叫咱hu， Univ(Sci.rech) ， 2003 , Vo1. 43 , lio.! 36/37 J()(1俨 1004 基于难imd故障冲突分析的非扫描可测性设计 ,DJ ;j; I ，顾珊 it .jè 2 (1. t青 4扣大学软仲学院.北京 1000841 Z 清华k学做电子学研宽所，北京 1000制) 摘 要、时序电路的测试生成非常黄帝。时序*路的可测怯 设计叶子指导电路设计及测试生 J?C fi 十分重要的。基于对在 测试生成过程中约唯测故障进行〉中典分析，提出了一种新的 评价电路可测性的测度 con[Hct句句，并在此基础上提出丁一 种附阶段的非扫描叮测性设计万法。这神新的测度可以体现 出时 .lf ATPG 中的绝大部分特i:E，运用班方法对←虫草实验 吧路进行可测怯设计后，姑果来明比近期的两坤非扫描可测 性设计如诠 n$can 和 lcdft 在故:障覆盖串、测试效*略为面 都取啤丁更好的姓果。 关键词 t 测飞式和检验 3 快速测试$坤现§也告赋f在; 4，扫描 可测性设计 中图分类号 s 丁N 407 文献标识码， A 文撒编螃 10ωω54 (2003)li7.! 001.04 Non-scan testability based on fault-oriented conflict analysis 剧ANG 口。 ng l ? GU Shan2, XU Yi 2 (t. School of Software. T归?gh\l8 Unl\ersity , Beijlng 100084 , Chinal Z. Institute of Mìt:I帽 I tclronics , Tsingbua Universlty , Beijing 100084. Cblna) Ab油trlìct ~ Te!l 岳阳neration iOT highly 骂equent i.al tircuits i qì1it~ comp[ex so seqmntial citCui!s mu时 be dcsigned for tf!S阳 b?líty to obtain good fault covct.9.ge and t~dule test generatioJl costs. A nc响 testability rn明sure based on 1 ht \:onfljct analysis of fHml-to千detcct faults in the t?st generaL山1 proces$ WlI.S used to dtvelop n twü~stage non..scan design for testability method. The new 1制tabìlìtv mcasun: emulates m08t f阴阳ml featurcs of sequ f!l1 tial flutomatic tesl pa刊号m 附neration (ATPG). Th? mcthod wa l tlln 00 il numb盯 of TSCAS beochmarks 丁 he te l\ t rcsults show that thc proposed roethod provide better fωult CQvcrage and l t:!叫 efficicncy than 1 wu recent non ‘ scan d制igns for tcstability m川μé)ds Key words i test and rheck I at? speed te :,; tl conflkt; (:(川阳lUmg asslgnm创刊 i non~scan design fυr testability 1 概念和l寇义 可测试悦设 fl、分为 t 扫描设计勺 w打捕设计。 打t前设计口J得到l究余饭荒凉，们.测试时间长。非打捕 设计优 l 扫描 fj1:ì:十二E婆在于测试时间涩，可实现快 i监测试。以役的可测f鼓声口 SCOAP[(通常分为两个独 立的参数:可控度和可观测!宜。然而可控til何可观 测度在电防巾的赋债是问时进行的，因此它们具有 紧密中日关悦。 Savir 认为 [2J必须将可校做勺口j 观性 统 A考虑才能得到足够精确的问测试侬伯抖。辛辛只 采用…个参数来司空系电路的可测隙，那对咆NIf可测 性的估算将更加精确。 iE Gentest:J 叶， ，用创向故降 的测度来指导敝隙效应传播F高校的法捺日被iJE明是 十分自效的。 本文采