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MT-031
指南
Rev.A, 10/08, WK
实现数据转换器的接地并解开“AGND”和
“DGND”的谜团
作者:Walt Kester、James Bryant、Mike Byrne
简介
目前的信号处理系统一般需要混合信号器件,例如模数转换器 (ADC)、数模转换器 (DAC)
和快速数字信号处理器 (DSP)。由于需要处理宽动态范围的模拟信号,因此拥有高性能
ADC和 DAC显得更加重要。在恶劣的数字环境内,能否保持宽动态范围和低噪声与采用
良好的高速电路设计技术密切相关,包括适当的信号路由、去耦和接地。
过去,一般认为“高精度、低速”电路与所谓的“高速”电路有所不同。对于 ADC和
DAC,采样(或更新)频率一般用作区分速度标准。不过,以下两个示例显示,实际操作
中,目前大多数信号处理 IC真正实现了“高速”,因此必须作为此类器件来对待,才能保
持高性能。DSP、ADC和 DAC均是如此。
所有适合信号处理应用的采样 ADC(内置采样保持电路的 ADC)均采用具有快速上升和
下降时间(一般为数纳秒)的高速时钟工作,即使吞吐量看似较低也必须视为高速器件。
例如,中速 12位逐次逼近型 (SAR) ADC可采用 10 MHz内部时钟工作,而采样速率仅为
500 kSPS。
Σ-Δ型 ADC具有高过采样比,因此还需要高速时钟。即使是高分辨率、所谓的“低频”Σ-Δ
工业测量 ADC(吞吐速率 10 Hz至 7.5 kHz)也采用 5 MHz或更高时钟工作,并且提供高
达 24位的分辨率(例如 ADI公司的 AD77xx系列)。
更复杂的是,混合信号 IC具有模拟和数字两种端口,因此如何使用适当的接地技术就更
加茫然。此外,某些混合信号 IC具有相对较低的数字电流,而另一些具有高数字电流。
许多情况下,两种类型必须区分对待,才能实现最佳接地。
数字和模拟设计工程师倾向于从不同角度考察混合信号器件,本教程旨在确立适用于大多
数混合信号器件的一般接地原则,而不必了解内部电路的具体细节。
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MT-031
接地层和电源层
保持低阻抗大面积接地层对目前所有的模拟和数字电路都很重要。接地层不仅用作去耦高
频电流(源于快速数字逻辑)的低阻抗返回路径,还能将 EMI/RFI辐射降至最低。由于接
地层的屏蔽作用,电路受外部 EMI/RFI的影响也会降低。
接地层还允许使用传输线路技术(微带线或带状线)传输高速数字或模拟信号,此类技术
需要可控阻抗。
由于“母线 (buss wire)”在大多数逻辑转换等效频率下具有阻抗,将其用作“地”完全不
能接受。例如,#22标准导线具有约 20 nH/英寸的电感。由逻辑信号产生的压摆率为 10
mA/ns的瞬态电流,在此频率下流经 1英寸该导线将形成 200 mV的无用压降:
002 Vm .ns
01 Am02 Hn
t
iLv = × =
?
?
=? 公式 1
对于具有 2 V峰峰值范围的信号,此压降会转化为约 10%的误差(大约 3.5位精度)。即
使在全数字电路中,该误差也会大幅降低逻辑噪声裕量。
图 1为数字返回电流调制模拟返回电流的典型情况(顶图)。接地返回导线电感和电阻由
模拟和数字电路共享,这会造成相互影响,最终产生误差。一个可能的解决方案是让数字
返回电流路径直接流向 GND REF,如底图所示。这就是“星型”或单点接地系统的基本
概念。在包含多个高频返回路径的系统中很难实现真正的单点接地,因为各返回电流导线
的物理长度将引入寄生电阻和电感,所以获得低阻抗高频接地就很困难。实际操作中,电
流回路必须由大面积接地层组成,以便实现高频电流下的低阻抗。如果无低阻抗接地层,
则几乎不可能避免上述共享阻抗,特别是在高频下。
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MT-031
ANALOG
CIRCUITS
DIGITAL
CIRCUITS
ANALOG
CIRCUITS
DIGITAL
CIRCUITS
VD
VD
VA
VA
+ +
+ +
ID
IA
IDIA + ID
VIN
VIN
ID
IA
ID
IA
GND
REF
GND
REF
INCORRECT
CORRECT
图 1:流入模拟返回路径的数字电流产生误差电压
所有集成电路接地引脚应直接焊接到低阻抗接地层,从而将串联电感和电阻降至最低。对
于高速器件,不推荐使用传统 IC插槽。即使是“小尺寸”插槽,额外电感和电容也可能
引入无用的共享路径,从而破坏器件性能。如果插槽必须配合 DIP封装使用,例如在制作
原型时,个别“引脚插槽”或“笼式插座”是可以接受的。以上引脚插槽提供封盖和无封
盖两种版本(AMP产品型号 5-
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