第二章_可靠性數学及其应用.pptVIP

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2017-04-21 发布于上海
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第二章_可靠性數学及其应用.ppt

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元器件可靠性试验技术教程; 元器件出现失效是一种随机事件，元器件的寿命是一个随机变量，而元器件的失效率或寿命都可以用失效分布或寿命分布函数的形式来描述其规律性;元器件去除早期失效后，当数量足够多，时间足够长时，失效率便趋于某一稳定值。其值的大小只与工作条件和外部环境有关，而与元器件的工作时间无关，产品的这种寿命分布规律称为指数分布;概率密度函数;指数分布举例;2.1.2 寿命分布——正态分布;2.1.2 寿命分布——对数正态分布;3个未知参数，形状参数m，位置参数r，尺度参数t0;形状参数m表示概率密度函数曲线的集合形状位置参数r表示概率密度函数曲线在t轴上的起始位置尺度参数t0表示概率密度函数曲线与坐标轴的标尺比例，与曲线的形状无关;2.2 抽样检验;2.2.2抽样概率分布——二项分布和泊松概率;2.2 .2抽样特性曲线;2.2 .2抽样特性曲线;有效??;2.2.4计数抽样检验方案—一次抽样检验方案;给定;两个待抽样本和两个判定数组;LTPD（Lot Tolernce Percent Defective）批允许不合格率;LTPD抽样方案表（置信度90%，N200 ）;小批量LTPD抽样方案表（置信度90%， N ≤ 200 ）;AQL抽样规定了可以接收质量水平（Acceptable Quality Level）为质量指标的抽样方案和实施程序; AQL抽样方案的参数;AQL抽样样本大小字码;2.AQL抽样序列;3.AQL抽样方案表;3.AQL抽样方案表;3.AQL抽样方案表;当产品失效率与时间无关时其失效分布为指数分布，即累积失效率为：;2.2.8元器件失效率鉴定检验抽样;失效率等级定级试验（GJB2649）;元器件升级试验抽样;元器件失效率等级维持试验抽样;元件批一致性失效率检验抽样;固定样本大小的抽样检验;2.2.11 逐批抽样检验和周期抽样检验的实施;抽样检验的实施过程 ;总结