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Cmos数字电路
CMOS反相器
MOS传输门
静态CMOS门电路
动态CMOS电路
MOS其它单元电路
黑龙江大学集成电路与集成系统
参考书目:
1、半导体集成电路,朱正涌 编著。清华大学
出版社。
2、数字集成电路电路-电路、系统与设计,[美]Jan M.Rabaey.周润德 译。电子工业出版社。
黑龙江大学集成电路与集成系统
MOS基本逻辑单元电路
MOS集成电路具有集成度高、功耗低的特点,是当今大规模集成电路的主流产品,尤其是CMOS集成电路。
黑龙江大学集成电路与集成系统
静态MOS反相器
MOS反相器特性的分析是MOS基本逻辑门电路分析的重要基础。
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1. 结构和工作原理
Vi为VOL时,MN截止,MP非饱和
-Kp [2(VOL- VDD -VTP) (VOH-VDD )
– (VOH-VDD ) 2] = 0
VOH = VDD
Vi为VOH时,MN非饱和,MP截止
Kn[2(VOH-VTN)VOL-VOL2] =0
VOL=0
无比电路
MP 为PMOS,VTP 0, MN 为NMOS,VTN 0
CMOS反相器
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2.电压传输特性及器件工作状态表
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3.噪声容限
(1)指定噪声容限
VNMmax=min{VNMHmax,
VNMLmax }
0
0
1
1
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(2) 最大噪声容限
VNMH=VOH-V* =VDD-V*
VNML=V*-VOL=V*
当V*为 时,噪声容限为最大()
V*将随着o的变化而向相反方向变化
NMOS和PMOS都饱和时有:
记作V*
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4.瞬态特性
Vo
CL为负载电容,带负载门数越多, 连线越长,CL越大,延迟越大。
在cmos电路中,负载电容的充放电时间限了开关速度。
例:画出在开关期间nmos管工作点的移动轨迹。(阶跃电压Vi从0变化到VDD时,Vo和ID的关系曲线)
VDD
Vi
MP
MN
Vo
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(1)下降时间
KN越大
tf越小
tf = tf1 + tf2
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(2)上升时间
KP越大
tr越小
tr = tr1 + tr2
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(3)平均延迟时间
tpd =(tpHL + tpLH )/2
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5.功耗特性
(1) 静态功耗PD
理想情况下静态电流为0,实际存在漏电流(表面漏电,PN结漏电),有漏电功耗:
PD = IosVDD
CMOS电路功耗由三部分组成:静态功耗、瞬态功耗和节点电容充放电功耗。
设计时应尽量减小PN结面积
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(2)交流功耗PA
由于节点都存在寄生电容,因而状态转换时输入波形有一定的斜率,使NMOS和PMOS都处于导通态,存在瞬态电流,产生功耗:
设计时应尽量减小tr和tf
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(3)瞬态功耗PT
在状态转换过程中,结点电位的上升和下降,都伴随着结点电容的充放电过程,产生功耗:
设计时应尽量减小节点寄生电容
PT = CL VDD 2
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6.最佳设计
(1)最小面积方案
芯片面积 A=(Wn Ln+ Wp Lp)
按工艺设计规则设计最小尺寸
Lp = Ln Wp = Wn
面积小、功耗小、非对称延迟
(2) 对称延迟方案
上升时间与下降时间相同tr = tf 应有:Kp = Kn,一般取:Lp=Ln则有:Wp/ Wn =n /p 2
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(3)对延迟最小方案(Tpd最小)
一般取:Lp = Ln Wp/Wn =1~2
CL=CE+(Wp Lp + Wn Ln) Cg0
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(4)级间最佳驱动方案
设:级间尺寸比为,CL/Cg =
驱动相同负载延迟为
一般取 = 2~5
则:每级门延迟为,总延迟
为N, N=,N=ln/ln
可见: =e时,总延迟最小
因此有: N = ln(/ln)
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7.单元版图示例
黑龙江大学集成电路与集
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