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第九章_透射电子显微镜
1. 透射电镜的一般知识
2. TEM工作原理(重点)
3. 透射电镜的结构(重点)
4. 电子衍射物相分析(重点)
5. 电子显微衬度像(重点);1. 透射电镜的一般知识;1.1 什么是TEM?;600 kx;应用举例-金属组织观察;应用举例-银纳米线的原位观察;1. 透射电镜的一般知识;The Discovery of Electron-Joseph John Thomson ;Louis-Victor de Broglie waveelectrons are particles and have wave nature; ; ;例:质量 m= 50Kg的人,以 v=15 m/s 的速度运动,试求人的德布罗意波波长。;电子的德波波长很短,用电子显微镜可放大200万倍。;Knoll and Ruska (1932)the first Transmission Electron Microscope;40年代电镜;40-60年代电镜;60年代电镜;场发射透射电镜 (FEG-TEM);球差校正透射电镜 (Cs corrected-TEM);球差校正透射电镜 (Cs corrected-TEM);Science 303, 2001 (2004) Angew. Chem. Int. Ed. 2008, 47, 5005 –5008;1.2 近代电子显微学发展史上三个重要阶段;美国伯克莱加州大学G. Thomas将TEM第一个用到材料研究上。
日本岗山大学H. Hashimoto日本电镜研究的代表人。
中国:钱临照、郭可信、李方华、叶恒强、朱静。
国内著名的电镜中心:北京电镜室(物理所)、沈阳金属所、清华大学(国家电镜中心)。;1. 透射电镜的一般知识;1.3 为什么要用TEM?;(2) 高的图像分辨率;电子波长的计算;1.3 为什么要用TEM?;;第九章 电子衍射及显微分析;2. 成像原理;两种工作模式;第九章 电子衍射及显微分析;TEM;3. 透射电镜的结构;3.1 电子光学部分;3.1.1 照明系统-电子枪;3.1.1 照明系统-热发射电子枪;3.1.1 照明系统-场发射电子枪;3.1.1 照明系统-会聚镜;3.1.2 成像系统;3.1.2 成像系统-物镜;3.1.2 成像系统-物镜光栏;3.1.2 成像系统-物镜光栏;3.1.2 成像系统-物镜光栏;3.1.2 成像系统-中间镜;3.1.2 成像系统-投影镜;3.1.3 观察和记录系统 ;3. 透射电镜的结构;3.2 真空部分;3. 透射电镜的结构; 3.3 电源与控制系统 ;3. 透射电镜的结构;3.4 电磁透镜的工作原理;3.4 电磁透镜的工作原理;3.4 电磁透镜的工作原理;第九章 电子衍射及显微分析;4. 电子衍射物相分析;4.1 电子衍射花样的形成 ;4.1 电子衍射花样的形成 ;4. 电子衍射物相分析;4.2 电子衍射的基本公式;4. 电子衍射物相分析;4.3 各种结构的衍射花样;4.3 各种结构的衍射花样;4.3 各种结构的衍射花样;4. 电子衍射物相分析;4.4 选区电子衍射;4.4 选区电子衍射;4. 电子衍射物相分析;4.5 衍射花样分析;4.5.1 多晶体结构分析;立方晶系中环的半径;消光规律;消光规律;消光规律;立方晶系中环的半径;4.5.1 多晶衍射花样的标定;例如;4.5 衍射花样分析;4.5.2 单晶体结构分析;4.5.2 单晶体结构分析;4.5.2.1 已知晶体结构,确定晶面取向;4.5.2.1 已知晶体结构,确定晶面取向;例子;例子;4.5.2.2 对未知的结构,进行物相鉴定;4.5.2.2 对未知的结构,进行物相鉴定;4.5.2.3 标准花样对照法;;;4.5.3 复杂电子衍射花样;超点阵花样;超点阵花样;高阶劳爱斑点;高阶劳厄带的特点;菊池衍射图;菊池线的产生机理;菊池线的几何特征;第九章 电子衍射及显微分析;5. 电子显微衬度像 ;5.1 衬度(contrast)定义;5. 电子显微衬度像 ;5.2 四种衬度;5. 电子显微衬度像 ;5.2.1 质厚衬度;质厚衬度;质厚衬度的公式;5. 电子显微衬度像 ;5.2.2 衍射衬度;5.2.2 衍射衬度;5.2.2 衍射衬度;TEM衍衬分析必须的条件;5. 电子显微衬度像 ;5.2.3 相位衬度-原子像;引入附加相位位移的方法:物镜的球差和欠焦量。
由于透镜球差引入的程差
如果观察面位于象面之下(物镜欠焦?f),引进的程差则是
DC-D’C’ ≈-0.5?f?2
适当选择欠焦量,使两种效应引起的附加相位变化是(2n-1)?/2,就可使相位差转换成强度差,使相位衬度得以显现。 ;欠焦量和样品厚度对图像的影响;HRTEM I
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