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用单片机实现的测温电路设计  利用单片机实现极简单的测温电路单片机在电子产品中的应用已经越来越广泛，在很多的电子产品中也用到了温度检测和温度控制，但那些温度检测与控制电路通常较复杂，成本也高，本文提供了一种低成本的利用单片机多余I／O口实现的温度检测电路，该电路非常简单，且易于实现，并且适用于几乎所有类型的单片机。其电路如下图所示：图中：P1.0、P1.1和P1.2是单片机的3个I／O脚；RK为100k的精密电阻；RT为100K－精度为1％的热敏电阻；R1为 利用单片机实现极简单的测温电路单片机在电子产品中的应用已经越来越广泛，在很多的电子产品中也用到了温度检测和温度控制，但那些温度检测与控制电路通常较复杂，成本也高，本文提供了一种低成本的利用单片机多余I／O口实现的温度检测电路，该电路非常简单，且易于实现，并且适用于几乎所有类型的单片机。其电路如下图所示：图中：P1.0、P1.1和P1.2是单片机的3个I／O脚；RK为HYPERLINK /tech/detail/100.html100k的精密HYPERLINK /tech/qtdz/200010160031/28957.html电阻；RT为100K－精度为1％的HYPERLINK /tech/dzq/200010070027/23504.html热敏电阻；R1为100Ω的普通电阻；HYPERLINK /tech/dzq/200010070034/799314.htmlC1为0.1HYPERLINK /tech/ljq/200010230005/132551.htmlmu;的瓷介HYPERLINK /tech/dgq/200010090013/9632.html电容。其工作原理为：1.先将P1.0、P1.1、P1.2都设为低电平输出，使C1放电至放完。2.将P1.1、P1.2设置为输入状态，P1.0设为高电平输出，通过RK电阻对C1充电，单片机内部计时器清零并开始计时，检测P1.2口状态，当P1.2口检测为高电平时，即C1上的电压达到单片机高电平输入的门嵌电压时，单片机计时器记录下从开始充电到P1.2口转变为高电平的时间T1。3.将P1.0、P1.1、P1.2都设为低电平输出，使C1放电至放完。4.再将P1.0、P1.2设置为输入状态，P1.1设为高电平输出，通过RT电阻对C1充电，单片机内部计时器清零并开始计时，检??P1.2口状态，当P1.2口检测为高电平时，单片机计时器记录下从开始充电到P1.2口转变为高电平的时间T2。5.从电容的电压公式：可以得到：T1／RK＝T2／RT，即 RT＝T2×RK／T1通过单片机计算得到热敏电阻RT的阻值。并通过查表法可以得到温度值。从上面所述可以看出，该测温电路的误差来源于这几个方面：单片机的HYPERLINK /tech/qtdz/200010160006.html定时器精度，RK电阻的精度，热敏电阻RT的精度，而与单片机的输出电压值、门嵌电压值、电容精度无关。因此，适当选取热敏电阻和精密电阻的精度，单片机的工作频率够高，就可以得到较好的测温精度。当单片机选用4M工作频率，RK、RT均为1％精度的电阻时，温度误差可以做到小于1℃。如果P1.2具有外部上升沿中断的功能，程序可以更简单，效果更好。单片机工作的程序流程图如下： 1、型号说 MF52103H3435FANTC热敏电阻环氧系列电阻值阻值允差B值B值允差B值类别10KΩ±5%3435K±1%B25/50 2、电气性能 序号项目符号测试条件最小值正常值最大值单位3-1.25℃的电阻值R25Ta=25±0.05℃ PT≦0.1mw9.910.010.1kΩ3-2.50℃的电阻值R50Ta=50±0.05℃ PT≦0.1mw/4.0650/kΩ3-3.B值B25/50343634353504K3-4.耗散系数σTa=25±0.5℃2.0//mw/℃3-5.时间常数τTa=25±0.5℃//15sec3-6.绝缘电阻/500VDC50//MΩ3-7.使用温度范围//-55/+125℃ 3、机械试验 项目技术要求测试条件及方法4-1.可焊性引出端焊料自由流动和浸润良好，上锡面积95%以上将引出端沾助焊剂后，浸入温度为230±5℃锡槽中，锡面距NTC本体下端2-2.5mm处，持续2±0.5S (参照IEC60068-2-20试验Ta/GB2423.28 Ta)4-2.耐焊接热无可