基于垂直扩散的FPGA温度优化布局算法.pdfVIP

基于垂直扩散的FPGA温度优化布局算法.pdf

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
基于垂直扩散的FPGA温度优化布局算法.pdf

第 29 卷 第 1 期 计算机辅助设计与图形学学报 Vol. 29 No.1 2017 年 1 月 Journal of Computer-Aided Design Computer Graphics Jan. 2017 基于垂直扩散的 FPGA 温度优化布局算法 黄俊英1,2), 林 郁1), 张 超1), 杨海钢1)* 1) (中国科学院电子学研究所可编程芯片与系统研究室 北京 100190) 2) (中国科学院大学 北京 100190) (yanghg@mail.ie.ac.cn) 摘 要: 为减小 FPGA 热梯度的增加对芯片性能和可靠性的影响, 提出一种基于垂直扩散的温度优化布局算法. 首 先, 通过实验分析了芯片温度特性与芯片尺寸之间的关系; 然后, 根据布局后网表计算出过热区域, 利用该区域边 界及扩散系数构建温度优化布局算法, 并引入局部位置调整机制解决逻辑块位置重叠问题. 实验结果表明, 与传统 布局算法的芯片温度相比, 在线长和延时平均仅增加 3.4%和 1.4%的情况下, 该算法的峰值温度平均减小 7.5%, 热梯 度平均减小 20.3%. 关键词: 可编程门阵列; 布局算法; 温度优化; 热梯度 中图法分类号: TP302.1 A Temperature-Aware FPGA Placement Based on Vertical Diffusion Huang Junying1,2), Colin Lin Yu1), Zhang Chao1), and Yang Haigang1)* 1) (System on Programmable Chip Research Department, Institute of Electronics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190) 2) (University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190) Abstract: In this paper we propose an FPGA placement algorithm for temperature optimization based on vertical diffusion. It aims at reducing the effect of the increase in thermal gradient of FPGA on chip per- formance and reliability. Firstly, we analyzed the relationship between chip size and the temperature and thermal gradient of the chip through experiments. Secondly, according to the placed net list, we computed the hotspot region. Its boundary together with a diffusion coefficient was used to construct the proposed placement algorithm. In addition, we provided an adjustment mechanism of local positions to remove over- laps between logic blocks. Experimental results show a 7.5% and 20.3% reduction on average in peak tem- perature and thermal gradient respectively with a 3.4% and 1.4% increase in wire length and delay, in comparison with their

文档评论(0)

heroliuguan + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

版权声明书
用户编号:8073070133000003

1亿VIP精品文档

相关文档